邁克爾遜干涉儀（英文：Michelson interferometer）是光學(xué)干涉儀中最常見的一種，其發(fā)明者是美國物理學(xué)家阿爾伯特·亞伯拉罕·邁克爾遜。邁克耳遜干涉儀的原理是一束入射光經(jīng)過分光鏡分為兩束后各自被對應(yīng)的平面鏡反射回來，因為這兩束光頻率相同、振動方向相同且相位差恒定（即滿足干涉條件），所以能夠發(fā)生干涉。干涉中兩束光的不同光程可以通過調(diào)節(jié)干涉臂長度以及改變介質(zhì)的折射率來實現(xiàn)，從而能夠形成不同的干涉圖樣。干涉條紋是等光程差的軌跡，因此，要分析某種干涉產(chǎn)生的圖樣，必需求出相干光的光程差位置分布的函數(shù)。光束分割：通過分束器將激光束分成兩部分，通常稱為參考光束和測量光束。昆山銷售雙頻激光干涉儀設(shè)備廠家

工程測量：用于高精度的長度測量和地形測量。波譜分析：用于分析光譜的精細結(jié)構(gòu)和超精細結(jié)構(gòu)。量子物理實驗：用于研究量子光學(xué)、原子物理學(xué)等領(lǐng)域的物理現(xiàn)象。五、發(fā)展歷史與現(xiàn)狀19世紀的波動論者認為光波或電磁波必須在彈性介質(zhì)中才得以傳播，這種假想的彈性介質(zhì)稱為以太。人們做了一系列實驗來驗證以太的存在并探求其屬性，以干涉原理為基礎(chǔ)的實驗**為精確，其中**有名的是菲佐實驗和邁克耳孫-莫雷實驗。隨著激光器的發(fā)展，干涉儀開始使用激光作為光源，提高了測量的精度和穩(wěn)定性。到了20世紀70年代以后，隨著計算機技術(shù)的發(fā)展，將激光干涉儀和電子計算機綜合起來的許多新的干涉儀，可以實現(xiàn)實時測量。目前，干涉儀已經(jīng)成為一種重要的精密測量工具，在各個領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。江蘇直銷雙頻激光干涉儀選擇法布里-干涉儀：由查爾斯·法布里和阿爾弗雷德·佩羅發(fā)明，主要用于高精度的光譜分析。

基于菲索干涉儀的等厚干涉原理設(shè)計，通過對比被測平面與標準參照鏡的干涉條紋變化，實現(xiàn)光學(xué)元件表面形狀誤差和材料均勻性的非接觸式測量 [1] [3-4]。標準參照鏡面形精度通常達到p-v:λ/20 [3-4]。測量口徑：Φ60mm（典型型號） [3-4]對準方式：兩點對準系統(tǒng) [3-4]結(jié)構(gòu)特性：小型化設(shè)計、防塵性能優(yōu)異 [3-4]精度范圍：根據(jù)型號不同覆蓋1/10-1/100波長梯度 [11.光學(xué)制造：檢測平面鏡、棱鏡等光學(xué)元件表面面型2.質(zhì)量檢測：評估光學(xué)材料均勻性與透鏡波前像差 [1]3.科研實驗：實驗室環(huán)境下進行精密光學(xué)計量分析

另一方面，當(dāng)可動棱鏡移動時，前者的干涉信號是在**亮和**暗之間緩慢變化的信號，而后者的干涉信號是使原有的交流信號頻率增加或減少了△f，結(jié)果依然是一個交流信號。因而對于雙頻激光干涉儀來說，可用放大倍數(shù)較大的交流放大器對干涉信號進行放大，這樣，即使光強衰減90%，依然可以得到合適的電信號。精度高雙頻激光干涉儀以波長作為標準對被測長度進行度量的儀器。即使不做細分也可達到μm量級，細分后更可達到nm量級。應(yīng)用范圍廣雙頻激光干涉儀除了可用于長度的精密測量外，配上適當(dāng)?shù)母郊€可測量角度、直線度、平面度、振動距離及速度等等光纖干涉儀：利用光纖中的光波干涉現(xiàn)象，廣泛應(yīng)用于傳感器、通信等領(lǐng)域。

環(huán)境適應(yīng)力強：雙頻激光干涉儀采用交流放大器對干涉信號進行放大，即使光強衰減90%，仍然可以得到有效的干涉信號。因此，它既可在恒溫、恒濕、防震的計量室內(nèi)使用，也可在普通車間內(nèi)為大型機床的刻度進行標定。實時動態(tài)測速高：現(xiàn)代的雙頻激光干涉儀測速普遍達到1m/s，有的甚至達到十幾m/s，適于高速動態(tài)測量。三、應(yīng)用領(lǐng)域幾何量精密測量：用于長度、角度、直線度、平行度、平面度、垂直度等幾何量的高精度測量。同時，既支持幾十米大量程的檢測（如大型機械），也可對手表零件等微米級運動進行測量。激光干涉儀廣泛應(yīng)用于精密測量、材料科學(xué)、光學(xué)研究、工程檢測等領(lǐng)域。江蘇直銷雙頻激光干涉儀選擇

和單頻激光干涉儀一樣，雙頻激光干涉儀也是一種以波長作為標準對被測長度進行度量的儀器。昆山銷售雙頻激光干涉儀設(shè)備廠家

檢驗光學(xué)元件泰曼干涉儀被普遍用來檢驗平板、棱鏡和透鏡等光學(xué)元件的質(zhì)量。在泰曼干涉儀的一個光路中放置待檢查的平板或棱鏡，平板或棱鏡的折射率或幾何尺寸的任何不均勻性必將反映到干涉圖樣上。若在光路中放置透鏡，可根據(jù)干涉圖樣了解由透鏡造成的波面畸變，從而評估透鏡的波像差。引力波測量干涉儀也可以用于引力波探測(Saulson, 1994) [4]。 激光干涉儀引力波探測器的概念是前蘇聯(lián)科學(xué)家Gertsenshtein和Pustovoit在1962年提出的（Gertsenshtein和Pustovoit 1962） [5]。 1969年美國科學(xué)家Weiss和Forward則分別在1969年即于麻省理工和休斯實驗室建造初步的試驗系統(tǒng)（Weiss 1972） [6]昆山銷售雙頻激光干涉儀設(shè)備廠家

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