布線的幾何形狀、不正確的線端接、經(jīng)過連接器的傳輸及電源平面不連續(xù)等因素的變化均會導(dǎo)致此類反射。同步切換噪聲(SSN)當(dāng)PCB板上的眾多數(shù)字信號同步進(jìn)行切換時(如CPU的數(shù)據(jù)總線、地址總線等)，由于電源線和地線上存在阻抗，會產(chǎn)生同步切換噪聲，在地線上還會出現(xiàn)地平面反彈噪聲(地彈)。SSN和地彈的強(qiáng)度也取決于集成電路的I/O特性、PCB板電源層和平面層的阻抗以及高速器件在PCB板上的布局和布線方式。串?dāng)_(Crosstalk)串?dāng)_是兩條信號線之間的耦合，信號線之間的互感和互容引起線上的噪聲。容性耦合引發(fā)耦合電流，而感性耦合引發(fā)耦合電壓。串?dāng)_噪聲源于信號線之間、信號系統(tǒng)和電源分布系統(tǒng)之間、過孔之間的電磁耦合。串繞有可能引起假時鐘，間歇性數(shù)據(jù)錯誤等，對鄰近信號的傳輸質(zhì)量造成影響。實際上，我們并不需要完全消除串繞，只要將其控制在系統(tǒng)所能承受的范圍之內(nèi)就達(dá)到目的。PCB板層的參數(shù)、信號線間距、驅(qū)動端和接收端的電氣特性、基線端接方式對串?dāng)_都有一定的影響。過沖(Overshoot)和下沖(Undershoot)過沖就是前列個峰值或谷值超過設(shè)定電壓，對于上升沿，是指比較高電壓，對于下降沿是指比較低電壓。下沖是指下一個谷值或峰值超過設(shè)定電壓。專業(yè)中小批量線路板設(shè)計（PCB設(shè)計）！價格優(yōu)惠，歡迎咨詢！天津電子pcb價目

因此測試點(diǎn)占有線路板室內(nèi)空間的難題，常常在設(shè)計方案端與生產(chǎn)制造端中間拔河賽，但是這一議案等之后還有機(jī)會再說談。測試點(diǎn)的外型一般是環(huán)形，由于探針也是環(huán)形，比較好生產(chǎn)制造，也較為非常容易讓鄰近探針靠得近一點(diǎn)，那樣才能夠提升針床的植針相對密度。1.應(yīng)用針床來做電源電路測試會出現(xiàn)一些組織上的先天性上限定，例如：探針的較少直徑有一定極限，很小直徑的針非常容易斷裂損壞。2.針間間距也是有一定限定，由于每一根針必須從一個孔出去，并且每根針的后端開發(fā)都也要再電焊焊接一條扁平電纜，假如鄰近的孔很小，除開針與針中間會出現(xiàn)觸碰短路故障的難題，扁平電纜的干預(yù)也是一大難題。3.一些高零件的邊上沒法植針。假如探針間距高零件太近便會有撞擊高零件導(dǎo)致?lián)p害的風(fēng)險性，此外由于零件較高，一般也要在測試夾具針床座上打孔繞開，也間接性導(dǎo)致沒法植針。電路板上愈來愈難容下的下全部零件的測試點(diǎn)。4.因為木板愈來愈小，測試點(diǎn)多少的存廢屢次被拿出來探討，如今早已擁有一些降低測試點(diǎn)的方式出現(xiàn)，如Nettest、TestJet、BoundaryScan、JTAG.。。等；也是有其他的測試方式要想替代本來的針床測試，如AOI、X-Ray，但現(xiàn)階段每一個測試好像都還沒法。山東電子pcb報價表本公司是專業(yè)提供PCB設(shè)計與生產(chǎn)線路板生產(chǎn)廠家，多年行業(yè)經(jīng)驗，類型齊全！歡迎咨詢！

隨著集成電路輸出開關(guān)速度提高以及PCB板密度增加，信號完整性(SignalIntegrity)已經(jīng)成為高速數(shù)字PCB設(shè)計必須關(guān)心的問題之一，元器件和PCB板的參數(shù)、元器件在PCB板上的布局、高速信號線的布線等因素，都會引起信號完整性的問題。對于PCB布局來說，信號完整性需要提供不影響信號時序或電壓的電路板布局，而對電路布線來說，信號完整性則要求提供端接元件、布局策略和布線信息。PCB上信號速度高、端接元件的布局不正確或高速信號的錯誤布線都會引起信號完整性問題，從而可能使系統(tǒng)輸出不正確的數(shù)據(jù)、電路工作不正常甚至完全不工作，如何在PCB板的設(shè)計過程中充分考慮信號完整性的因素，并采取有效的控制措施，已經(jīng)成為當(dāng)今PCB設(shè)計業(yè)界中的一個熱門話題。良好的信號完整性，是指信號在需要的時候能以正確的時序和電壓電平數(shù)值做出響應(yīng)。反之，當(dāng)信號不能正常響應(yīng)時，就出現(xiàn)了信號完整性問題。信號完整性問題能導(dǎo)致或直接帶來信號失真、定時錯誤、不正確數(shù)據(jù)、地址和控制線以及系統(tǒng)誤工作，甚至系統(tǒng)崩潰，信號完整性問題不是某單一因素導(dǎo)致的，而是板級設(shè)計中多種因素共同引起的。IC的開關(guān)速度，端接元件的布局不正確或高速信號的錯誤布線都會引起信號完整性問題。

即只規(guī)定差分線內(nèi)部而不是不一樣的差分對中間規(guī)定長度匹配。在扇出地區(qū)能夠容許有5mil和10mil的線距。50mil內(nèi)的走線能夠不用參照平面圖。長度匹配應(yīng)挨近信號管腳，而且長度匹配將能根據(jù)小視角彎折設(shè)計方案。圖3PCI-E差分對長度匹配設(shè)計方案為了更好地**小化長度的不匹配，左彎折的總數(shù)應(yīng)當(dāng)盡量的和右彎折的總數(shù)相同。當(dāng)一段環(huán)形線用于和此外一段走線來開展長度匹配，每段長彎曲的長度務(wù)必超過三倍圖形界限。環(huán)形線彎曲一部分和差分線的另一條線的**大間距務(wù)必低于一切正常差分線距的二倍。而且，當(dāng)選用多種彎折走線到一個管腳開展長度匹配時非匹配一部分的長度應(yīng)當(dāng)不大于45mil。（6）PCI-E必須在發(fā)送端和協(xié)調(diào)器中間溝通交流藕合，而且耦合電容一般是緊貼發(fā)送端。差分對2個信號的溝通交流耦合電容務(wù)必有同樣的電容器值，同樣的封裝規(guī)格，而且部位對稱性。假如很有可能得話，傳送對差分線應(yīng)當(dāng)在高層走線。電容器值務(wù)必接近75nF到200nF中間，**好是100nF。強(qiáng)烈推薦應(yīng)用0402的貼片式封裝，0603的封裝也是可接納的，可是不允許應(yīng)用軟件封裝。差分對的2個信號線的電力電容器I/O走線理應(yīng)對稱性的。盡量避免**分離出來匹配，差分對走線分離出來到管腳的的長度也應(yīng)盡可能短。我們不僅能PCB設(shè)計，還能提供電路板打樣，加急24小時交貨！

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傳輸線的端接通常采用2種策略：使負(fù)載阻抗與傳輸線阻抗匹配，即并行端接；使源阻抗與傳輸線阻抗匹配，即串行端接。(1)并行端接并行端接主要是在盡量靠近負(fù)載端的位置接上拉或下拉阻抗，以實現(xiàn)終端的阻抗匹配，根據(jù)不同的應(yīng)用環(huán)境，并行端接又可以分為如圖2所示的幾種類型。(2)串行端接串行端接是通過在盡量靠近源端的位置串行插入一個電阻到傳輸線中來實現(xiàn)，串行端接是匹配信號源的阻抗，所插入的串行電阻阻值加上驅(qū)動源的輸出阻抗應(yīng)大于等于傳輸線阻抗。這種策略通過使源端反射系數(shù)為零，從而壓制從負(fù)載反射回來的信號(負(fù)載端輸入高阻，不吸收能量)再從源端反射回負(fù)載端。不同工藝器件的端接技術(shù)阻抗匹配與端接技術(shù)方案隨著互聯(lián)長度、電路中邏輯器件系列的不同，也會有所不同。只有針對具體情況，使用正確、適當(dāng)?shù)亩私臃椒ú拍苡行У販p少信號反射。一般來說，對于一個CMOS工藝的驅(qū)動源，其輸出阻抗值較穩(wěn)定且接近傳輸線的阻抗值，因此對于CMOS器件使用串行端接技術(shù)就會獲得較好的效果；而TTL工藝的驅(qū)動源在輸出邏輯高電平和低電平時其輸出阻抗有所不同。這時，使用并行戴維寧端接方案則是一個較好的策略；ECL器件一般都具有很低的輸出阻抗。天津電子pcb價目

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