ProSp 芯片應(yīng)用領(lǐng)域ProSp 芯片廣泛應(yīng)用于多個領(lǐng)域，包括但不限于：微流控領(lǐng)域：可以觀察和精確定位樣品區(qū)域，并進行熒光、拉曼和反射光譜的測量。農(nóng)業(yè)領(lǐng)域：如測量葉片某個區(qū)域的熒光、拉曼或反射光譜的強度分布，研究病蟲害情況。激光材料領(lǐng)域：研究材料的熒光信號和拉曼信號，評價材料性能和參數(shù)指標。光子晶體領(lǐng)域：測量利用光子晶體原理制造的紡織品，測量微小區(qū)域的顏色值和較大區(qū)域的顏色分布情況。材料研究領(lǐng)域：通過研究材料微觀區(qū)域的光譜情況，來研究材料特性。生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域：用于生物制藥、古籍鑒定、珠寶分析等。半導(dǎo)體發(fā)光二極管：測量半導(dǎo)體發(fā)光二極管的電致發(fā)光量子效率，適用于 OLED、QLED 和 PeLED 等發(fā)光器件。3. ProSp 芯片優(yōu)勢高靈敏度與低噪聲：ProSp 芯片能夠檢測到極微弱的光信號，適用于單光子成像。多種波長選擇：提供多種波長的光源，適用于不同的實驗需求。操作便捷：系統(tǒng)操作簡單，用戶可以通過軟件控制光譜數(shù)據(jù)采集和 CCD 數(shù)據(jù)采集?？焖贁?shù)據(jù)采集與處理：系統(tǒng)支持快速數(shù)據(jù)采集和處理，能夠?qū)崟r顯示測量結(jié)果。ProSp 芯片憑借其高性能和多功能性，成為材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)和環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域的理想選擇。其在多種領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，展示了其強大的性能和靈活性。roSp系統(tǒng)能夠進行顯微熒光、拉曼和反射光譜的測量。重慶結(jié)構(gòu)色器件專譜光電網(wǎng)站

ProSp-ELQY 電致發(fā)光量子效率測試系統(tǒng)模塊化設(shè)備搭建，適用于手套箱內(nèi)安裝，對于制備的材料，可進行快速原位量子效率測試，使用更方便系統(tǒng)性能參數(shù)?測試范圍（依配置決定）：亮度：0.01–2*106nit通量：5*10-6–300lm350-1100nm-輻射亮度：0.02-2*106mW/Sr/m2輻射通量：1*10-5–650mW900-1700nm-輻射亮度：300-6*108mW/Sr/m2輻射通量：0.02–3.5*104mW?亮度重復(fù)性：>98%?主波長重復(fù)性：0.5nm?光致量子效率測試結(jié)果重復(fù)性：5%注：以上測試樣品為標準朗伯體測試結(jié)果。大連結(jié)構(gòu)色器件專譜光電設(shè)備通過將拉曼探頭插入顯微光譜測量模塊，專譜顯微測量系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)顯微拉曼光譜測量。

ProSp 角分辨測試系統(tǒng)（ProSp-RTM-UV/VIS）靈活的光源選擇：自帶鎢燈光源和外接光源可擴展性：可以在光路中增加濾波片、偏振片、波片等光學(xué)器件應(yīng)用領(lǐng)域微納光學(xué)：研究微納結(jié)構(gòu)材料和器件的光學(xué)特性材料學(xué)：分析薄膜材料、濾光片、表面等離子體耦合共振器件等生物技術(shù)：用于生物樣品的光譜分析礦物分析：檢測礦物的反射率和透射率防偽技術(shù)：用于紙幣防偽檢測LED 光源：評估 LED 光源的光譜特性液晶顯示：研究液晶顯示材料的光學(xué)性能材料鍍膜：分析材料表面鍍膜的光學(xué)特性

對于傳統(tǒng)積分球式的光致發(fā)光及電致發(fā)光量子效率測試系統(tǒng)，我們使用積分球收集電致發(fā)光器件的發(fā)射光，光譜儀分析其強度，根據(jù)不同波長計算其光子數(shù)，根據(jù)發(fā)射光子數(shù)與經(jīng)過器件的電流載流子數(shù)的比值，我們可以計算出樣品的電致發(fā)光量子效率 EQE 。因此，針對于不同發(fā)光強度及樣品區(qū)域的需求， 我們開發(fā)了這套 ProSp-ELQY 電致發(fā)光量子效率測試系統(tǒng)。ProSp-ELQY電致發(fā)光量子效率測試系統(tǒng)可變光強量子效率測試系統(tǒng)以模塊化思路設(shè)計，適合手套箱內(nèi)使用，應(yīng)對無論是OLED，QLED，PeLED發(fā)光器件，可在器件制備的全流程中進行器件測試，測試系統(tǒng)經(jīng)過可溯源的光源進行定標，能夠進行準確的***量子產(chǎn)率，色度，和光譜測量。系統(tǒng)由光譜儀、拉曼探頭、拉曼、熒光激光器、鎢燈光源、顯微光譜測量模塊、便攜式拉曼樣品座等部分構(gòu)成。

專譜量子效率測試系統(tǒng)是一種用于測量光電器件和材料量子效率的高性能設(shè)備。它廣泛應(yīng)用于太陽能電池、光電探測器、LED、光電器件的研發(fā)和質(zhì)量控制。以下是其主要特點和功能：專譜量子效率測試系統(tǒng)憑借其高靈敏度、自動化控制和***的測量功能，成為科研、工業(yè)和環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域的理想選擇。其在太陽能電池、光電探測器、半導(dǎo)體材料、顯示技術(shù)、激光器和光通信等多個領(lǐng)域的應(yīng)用，展示了其強大的性能和靈活性。隨著技術(shù)的不斷進步，量子效率測試系統(tǒng)將繼續(xù)在高精度量子器件性能評估中發(fā)揮重要作用。Mapping功能可以用于識別和量化微觀樣品，包括法醫(yī)化學(xué)家的匹配纖維或油漆、對寶石或煤炭的鑒定等。福建顯微Mapping光譜專譜光電網(wǎng)站

ProSp顯微光譜測量系統(tǒng)采用模塊化集成設(shè)計，可以選擇不同光譜儀、激光器，并且可以擴展。重慶結(jié)構(gòu)色器件專譜光電網(wǎng)站

參數(shù)指標表格復(fù)制參數(shù)/型號ProSp-RTM-UVProSp-RTM-VIS光譜范圍250-2500 nm250-2500 nm光源選配，SMA905 光纖接口內(nèi)置鎢燈光源（360-2500 nm），可外接其他光源光斑大小可調(diào)，**小 1.5 mm可調(diào)，**小 1.5 mm入射光發(fā)散角<1.5°<1.5°入射角范圍0-270°0-350°接收角范圍0-360°0-360°角度分辨率0.1°0.1°樣品臺三維調(diào)節(jié)三維調(diào)節(jié)濾波片架包含 2 個濾波片架，可放置直徑 12.7 mm 的濾波片、波片和偏振片包含 2 個濾波片架，可放置直徑 12.7 mm 的濾波片、波片和偏振片旋轉(zhuǎn)偏振片架選配選配ProSp 角分辨測試系統(tǒng)憑借其高角度分辨率、全光譜測量能力和多種測量模式，成為材料科學(xué)和光學(xué)研究中的理想選擇。其在微納光學(xué)、材料學(xué)和生物技術(shù)等領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，展示了其強大的性能和靈活性。重慶結(jié)構(gòu)色器件專譜光電網(wǎng)站