設(shè)計(jì)工程師經(jīng)常發(fā)現(xiàn)新產(chǎn)品設(shè)計(jì)需要經(jīng)過多次修改才能達(dá)到限值。他們既不擁有EMI診斷訣竅，EMI診斷也不是他們?nèi)粘Ｘ?zé)任的一部分。通常，只當(dāng)設(shè)計(jì)的電路板幾乎完工時(shí)才遞交給EMC部門或外部實(shí)驗(yàn)室做進(jìn)一步測試。然而，相比早期設(shè)計(jì)階段（這時(shí)某些設(shè)計(jì)考慮或許能夠妥善處理）修改，在這個(gè)階段做出改動極具挑戰(zhàn)性。符合EMC標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)果在設(shè)計(jì)上是可控的，能夠做出規(guī)劃，同時(shí)也是設(shè)計(jì)師的責(zé)任。解決EMI并非使用什么巫術(shù)，也無需時(shí)域工程師躲避。使用您熟悉的儀器---示波器，您能夠更好地理解EMI問題，以及了解所用解決方案的效果。雖然EMI測量接收機(jī)也可用于自動測試系統(tǒng)，但在EMI診斷和檢修階段頻譜分析儀則顯得更優(yōu)越。天津消費(fèi)電子EMI診斷儀器

電磁干擾的觀念與防制﹐在國內(nèi)已逐漸受到重視。雖然目前國內(nèi)并無嚴(yán)格管制電子產(chǎn)品的電磁干擾（EMI）﹐但由于歐美各國多已實(shí)施電磁干擾的要求﹐加上數(shù)字產(chǎn)品的普遍使用﹐對電磁干擾的要求已是刻不容緩的事情。筆者由于啊作的關(guān)系﹐經(jīng)常遇到許多產(chǎn)品已完成成品設(shè)計(jì)﹐因無法通過EMI測試﹐而使設(shè)計(jì)工程師花費(fèi)許多時(shí)間和精力投入EMI的修改﹐由于屬于事后的補(bǔ)救﹐往往投入許多時(shí)間與金錢﹐甚而影響了產(chǎn)品上市的時(shí)機(jī)。要解決產(chǎn)品上的EMI問題﹐若能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)之初便加以考慮﹐則可以節(jié)省事后再投入許多時(shí)間與金錢。由于目前EMIDesign-in的觀念并不是十分普遍﹐而且由于事先的規(guī)劃并不能保證其成品可以完全符合電磁干擾的測試在﹐所以如何正確的診斷EMI問題﹐對于設(shè)計(jì)工程師及EMI工程師是非常重要的。成都家電燈具EMI診斷方法在進(jìn)行EMI診斷時(shí)，用峰值檢波可以快速發(fā)現(xiàn)EMI問題。

正確的EMI診斷方法是,當(dāng)對一個(gè)可能的干擾源采取了壓制措施后,即使沒有明顯的改善,也不要將這個(gè)措施去掉,繼續(xù)對可能的其他干擾源采取措施。當(dāng)采取到某個(gè)措施時(shí),如果干擾幅度降低很多,并能通過測試,并不一說明這個(gè)干擾源是主要的,而只說明這個(gè)干擾擾源相對于后幾個(gè)干擾源來說是量級較大的一個(gè),并且可以是之后一個(gè)。在前面的敘述中,假定對某個(gè)干擾源采取措施后,這個(gè)產(chǎn)品中所有干擾源被100%消除掉,如果這樣,那么當(dāng)之后一個(gè)干擾源去掉后,電磁干擾的減小應(yīng)為無限大。MDO還能捕獲或觀察頻譜和時(shí)域軌跡。

EMI測試中工程師的“痛點(diǎn)”：1.從電路板設(shè)計(jì)開始就應(yīng)該考慮EMI問題，但受資金限制，EMI診斷設(shè)備往往不能配備到位。2.電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)定型后去進(jìn)行EMC認(rèn)證測試，認(rèn)證機(jī)構(gòu)給出不合格報(bào)告，只指出輻射還是傳導(dǎo)EMI不合格，雖然給出干擾頻點(diǎn)，但并不指出電子設(shè)備中EMI不合格的位置或原因，需自行進(jìn)行EMI診斷，耗費(fèi)時(shí)間與資金。3.某些設(shè)備受環(huán)境制約無法進(jìn)行屏蔽，需找出EMI根源從設(shè)計(jì)上解決。頻譜儀是發(fā)現(xiàn)EMI問題的基本測試儀器，但某些情況下難以追蹤EMI的根源。4.某些EMI問題可以通過屏蔽方式解決，雖然可以通過EMC認(rèn)證，但EMI影響該設(shè)備自身性能，必須從根源上解決，或找出問題所在加以回避。在此種情況下，頻譜儀存在與3同樣的問題。5.隨著數(shù)據(jù)速率的加快，周期性突發(fā)的EMI問題日益增多，必須通過對EMI周期的分析找出問題的真正根源，這需要調(diào)制域分析。電磁干擾的觀念與防制，在國內(nèi)已逐漸受到重視。電磁干擾的觀念與防制﹐在國內(nèi)已逐漸受到重視。

設(shè)計(jì)工程師經(jīng)常發(fā)現(xiàn)新產(chǎn)品設(shè)計(jì)需要經(jīng)過多次修改才能達(dá)到限值。他們既不擁有EMI診斷訣竅，EMI診斷也不是他們?nèi)粘Ｘ?zé)任的一部分。通常，只當(dāng)設(shè)計(jì)的電路板幾乎完工時(shí)才遞交給EMC部門或外部實(shí)驗(yàn)室做進(jìn)一步測試。然而，相比早期設(shè)計(jì)階段（這時(shí)某些設(shè)計(jì)考慮或許能夠妥善處理）修改，在這個(gè)階段做出改動極具挑戰(zhàn)性。符合EMC標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)果在設(shè)計(jì)上是可控的，能夠做出規(guī)劃，同時(shí)也是設(shè)計(jì)師的責(zé)任。解決EMI并非使用什么巫術(shù)，也無需時(shí)域工程師躲避。使用您熟悉的儀器---示波器，您能夠更好地理解EMI問題，以及了解所用解決方案的效果。EMI診斷分析系統(tǒng)可以通過小范圍磁場耦合的方式，精確分析敏感電路。深圳GB9254EMI診斷頻率

EMI診斷分析系統(tǒng)可用于產(chǎn)品研發(fā)中的EMI問題診斷分析。天津消費(fèi)電子EMI診斷儀器

MIL-STD-285和NSA65-6是兩種常用的屏蔽效能標(biāo)準(zhǔn)，其測試目的類似于設(shè)備箱體的屏蔽效能測試，只不過它是在一個(gè)較大規(guī)模上進(jìn)行罷了。測試要求通常會用到磁場、電場、平面波和微波發(fā)射接收設(shè)備；被測的頻率范圍從幾十Hz到幾十GHz；可能會要求屏蔽效能值大于100dB。近場探頭和天線與頻譜分析儀一起用于標(biāo)定射頻泄漏區(qū)域，就象在一個(gè)物理小規(guī)模上測試電子設(shè)備所做的一樣。在這里會碰到許多同樣的問題，通常的射頻泄漏區(qū)域?yàn)殄e誤的導(dǎo)電封裝、襯墊、濾波器以及很可怕的“暗道”。所謂“暗道”指的是箱體外部的一個(gè)射頻泄漏點(diǎn)在箱體內(nèi)部的一個(gè)不同點(diǎn)上引起了射頻泄漏。在短波頻率上定位“暗道”是一項(xiàng)極具挑戰(zhàn)性的工作。天津消費(fèi)電子EMI診斷儀器

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