正確的EMI診斷：要解決產(chǎn)品上的EMI問(wèn)題﹐若能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)之初便加以考慮，則可以節(jié)省事后再投入許多時(shí)間。由于目前EMIDesign-in的觀念并不是十分普遍，而且由于事先的規(guī)劃并不能保證其成品可以完全符合電磁干擾的測(cè)試，所以如何正確的診斷EMI問(wèn)題，對(duì)于設(shè)計(jì)工程師及EMI工程師是非常重要的。頻譜分析儀是進(jìn)行電磁干擾測(cè)試、診斷和故障檢測(cè)中應(yīng)用廣的一種測(cè)試儀器。對(duì)于一個(gè)電磁兼容工程師（EMC）來(lái)講，頻譜分析儀除了測(cè)試商用和電磁的重要用途外，還可對(duì)對(duì)以下內(nèi)容進(jìn)行評(píng)估：1、材料的屏蔽效能；2、設(shè)備機(jī)箱的屏蔽效能；3、較大的試驗(yàn)室或測(cè)試室的屏蔽效能；4、電源線濾波器的衰減特性；此外，頻譜分析儀可從事場(chǎng)地勘測(cè)。全世界幾乎所有有關(guān)部門都在嘗試控制他們國(guó)家生產(chǎn)的電子產(chǎn)品產(chǎn)生的有害電磁干擾（EMI）。鄭州充電樁EMI診斷測(cè)試儀

EMI測(cè)試中工程師的“痛點(diǎn)”：1.從電路板設(shè)計(jì)開(kāi)始就應(yīng)該考慮EMI問(wèn)題，但受資金限制，EMI診斷設(shè)備往往不能配備到位。2.電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)定型后去進(jìn)行EMC認(rèn)證測(cè)試，認(rèn)證機(jī)構(gòu)給出不合格報(bào)告，只指出輻射還是傳導(dǎo)EMI不合格，雖然給出干擾頻點(diǎn)，但并不指出電子設(shè)備中EMI不合格的位置或原因，需自行進(jìn)行EMI診斷，耗費(fèi)時(shí)間與資金。3.某些設(shè)備受環(huán)境制約無(wú)法進(jìn)行屏蔽，需找出EMI根源從設(shè)計(jì)上解決。頻譜儀是發(fā)現(xiàn)EMI問(wèn)題的基本測(cè)試儀器，但某些情況下難以追蹤EMI的根源。4.某些EMI問(wèn)題可以通過(guò)屏蔽方式解決，雖然可以通過(guò)EMC認(rèn)證，但EMI影響該設(shè)備自身性能，必須從根源上解決，或找出問(wèn)題所在加以回避。在此種情況下，頻譜儀存在與3同樣的問(wèn)題。5.隨著數(shù)據(jù)速率的加快，周期性突發(fā)的EMI問(wèn)題日益增多，必須通過(guò)對(duì)EMI周期的分析找出問(wèn)題的真正根源，這需要調(diào)制域分析。鄭州充電樁EMI診斷測(cè)試儀EMI診斷一般使用通用儀器設(shè)備加上一些專屬附件。

如果用于識(shí)別輻射源，由于準(zhǔn)峰值檢波器算法結(jié)果總是小于或等于峰值檢波器，因此使用峰值檢波器足夠。準(zhǔn)峰值檢波器結(jié)果和峰值檢波器結(jié)果都涉及相同的信號(hào)重復(fù)率，您可以用公式表示數(shù)學(xué)波形，或者在故障排查過(guò)程中考慮到這一點(diǎn)。另一方面，EMI濾波器只會(huì)略微改變結(jié)果。與測(cè)試接收機(jī)不同，示波器在設(shè)計(jì)上沒(méi)有內(nèi)置EMI一致性限值測(cè)試。使用大多數(shù)示波器都配有的模板測(cè)試或遠(yuǎn)程軟件，可以在示波器上定義EMI一致性限值從而模擬EMI診斷的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試。然后，您可以進(jìn)一步設(shè)置更多的模板，發(fā)現(xiàn)感興趣的問(wèn)題區(qū)域。準(zhǔn)峰值根據(jù)信號(hào)的持續(xù)時(shí)間和重復(fù)率對(duì)信號(hào)進(jìn)行加權(quán)。

很多公司發(fā)現(xiàn)他們的電子產(chǎn)品在上架銷售前常常栽倒在之后一關(guān)，即符合EMC要求。這使他們認(rèn)識(shí)到在早期設(shè)計(jì)階段重視預(yù)測(cè)試和EMI診斷的重要性，以盡量減小測(cè)試不合格的影響——重新設(shè)計(jì)和設(shè)備召回，以及延遲產(chǎn)品上市。等到開(kāi)發(fā)期結(jié)束才去了解產(chǎn)品是否能夠通過(guò)一致性測(cè)試是一場(chǎng)豪賭，因?yàn)槊看胃倪M(jìn)涉及的開(kāi)發(fā)成本會(huì)以指數(shù)規(guī)律攀升。因此，通過(guò)試產(chǎn)原型機(jī)，甚至早在研發(fā)階段，從設(shè)計(jì)調(diào)研上排查EMI日益重要。對(duì)問(wèn)題電路板進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，并采取預(yù)防措施是能夠?yàn)樵O(shè)計(jì)帶來(lái)便利。準(zhǔn)峰值以便對(duì)從廣播角度看解釋為“干擾”的信號(hào)施加更多的權(quán)重。

故在EMI的問(wèn)題上﹐常?？吹揭粋€(gè)EMI有問(wèn)題的產(chǎn)品﹐由于未能找到造成EMI問(wèn)題的關(guān)鍵﹐花了許多時(shí)間﹐下了許多對(duì)策﹐卻始終無(wú)法解決﹐其中亦不乏專業(yè)的EMI工程師。以往談到EMI往往強(qiáng)調(diào)對(duì)策方法﹐甚而視許多對(duì)策秘決或絕招﹐然而沒(méi)有正確的診斷﹐而在產(chǎn)品上加了一大堆EMI壓制組件﹐其結(jié)果往往只會(huì)使EMI情況更糟。起初接觸產(chǎn)品EMI對(duì)策修改時(shí)﹐會(huì)聽(tīng)到很好EMI工程師說(shuō)把所有EMI對(duì)策拿掉﹐就可以通過(guò)測(cè)試。初聽(tīng)以為是句玩笑話﹐如今回想這是很寶貴的經(jīng)驗(yàn)談。而后亦聽(tīng)到許多EMI工程師談到類似的經(jīng)驗(yàn)。本文中將舉出實(shí)際的例子﹐讓讀者更加了解EMI的對(duì)策觀念。無(wú)需復(fù)制測(cè)試室條件就確定和解決EMI問(wèn)題是完全可行的。鄭州充電樁EMI診斷測(cè)試儀

根據(jù)不同的對(duì)象要制訂具體的EMI診斷方法。鄭州充電樁EMI診斷測(cè)試儀

EMI診斷分析系統(tǒng)的應(yīng)用場(chǎng)景：自動(dòng)執(zhí)行EMI敏感度問(wèn)題的位置定位、敏感電壓分析和薄弱敏感度區(qū)域的分析；研發(fā)階段EMI敏感度性能評(píng)估；方案變更后的EMI敏感度性能評(píng)估對(duì)比；物料變更后的EMI敏感度性能評(píng)估對(duì)比。EMI診斷分析系統(tǒng)的功能描述：支持標(biāo)準(zhǔn)EMI波形的抗擾度可視化分析；支持比較低的干擾電壓，可用于芯片等敏感器件的抗擾度分析；干擾電壓步進(jìn)任意設(shè)置，兼顧測(cè)試效率及測(cè)試精度；精確定位PCB板上受擾位置，快速找到敏感源；自動(dòng)化測(cè)試軟件，實(shí)時(shí)記錄干擾等級(jí)；產(chǎn)品需重點(diǎn)關(guān)注的性能指標(biāo)可依照客戶實(shí)際需求進(jìn)行監(jiān)測(cè)；選定測(cè)試區(qū)域后，一次性自動(dòng)化完成測(cè)量。鄭州充電樁EMI診斷測(cè)試儀

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