探索LIMS在綜合第三方平臺建設(shè)
高校實(shí)驗(yàn)室引入LIMS系統(tǒng)的優(yōu)勢
高校實(shí)驗(yàn)室中LIMS系統(tǒng)的應(yīng)用現(xiàn)狀
LIMS應(yīng)用在生物醫(yī)療領(lǐng)域的重要性
LIMS系統(tǒng)在醫(yī)藥行業(yè)的應(yīng)用
LIMS:實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng)的模塊組成
如何選擇一款適合的LIMS?簡單幾步助你輕松解決
LIMS:解決實(shí)驗(yàn)室管理的痛點(diǎn)
實(shí)驗(yàn)室是否需要采用LIMS軟件?
LIMS系統(tǒng)在化工化學(xué)行業(yè)的發(fā)展趨勢
極近場掃描系統(tǒng)完成了空間和頻譜掃描后顯示并生成了以下輻射特性圖。需注意的是,掃描結(jié)果疊加在Gerber設(shè)計(jì)文件上,因此這樣對結(jié)果進(jìn)行分析可以立即確定待測器件中的具體輻射體。為了實(shí)現(xiàn)這個目標(biāo),設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)首先在SSCG功能為“關(guān)”的情況下將待測器件(DUT)放其內(nèi)部掃描儀上,加電,然后在PC中捕獲輻射特性。為了進(jìn)行有效的對比,在打開SSCG功能的情況下,對同一待測器件進(jìn)行了掃描。為SSCG功能為“開”時待測設(shè)備輻射的空間和頻譜(幅度與頻率)特性。通過對比,可以發(fā)現(xiàn)輻射已經(jīng)顯著減少。在5m測量距離上,只2°C的溫度變化將在10kHz處產(chǎn)生180度的相位誤差。上海天線近場掃描原理
提供一種電磁場近場掃描裝置與掃描方法,掃描裝置結(jié)構(gòu)簡單,通過探頭實(shí)現(xiàn)對待測物品的電磁場近場數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確采集,通過空間移動平臺和計(jì)算機(jī)協(xié)調(diào)工作實(shí)現(xiàn)對探頭位置的準(zhǔn)確控制,通過顯微攝像裝置準(zhǔn)確監(jiān)測探頭與待測物品之間的距離,從而能夠準(zhǔn)確獲得待測物品的電磁場近場掃描結(jié)果,另外,探頭在掃描待測物品電磁場近場時,采用逐點(diǎn)掃描,實(shí)時采集傳輸,即每一次探頭移動,均采集一次數(shù)據(jù)并及時將采集到的數(shù)據(jù)發(fā)送至信號分析裝置,避免掃描過程中,掃描裝置自身對待測物品電磁場近場的影響,以及數(shù)據(jù)采集延時對信號準(zhǔn)確度的影響,從而更進(jìn)一步提高了掃描的精度和掃描結(jié)果的準(zhǔn)確度。山東三維電磁近場掃描儀器廠家近場掃描測試系統(tǒng):對天線近場區(qū)(離開天線幾個波長范圍)的電磁場分布進(jìn)行測量。
近場掃描系統(tǒng)的制作方法:其中,采集單元2如接收天線用于采集穿過介質(zhì)I后的電磁波在空間各個點(diǎn)上的電磁參數(shù),移動單元4例如電機(jī)、滑軌則輔助采集單元2在三維空間上以一定的步長上下、左右或前后移動,控制單元5用來驅(qū)動移動單元4的啟動、停止等。采集到的電磁參數(shù)被送到分析單元3,常用的分析單元3如矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(即PNA),可將電磁參數(shù)表征的模擬信號轉(zhuǎn)化為處理單元6所能識別的數(shù)字信號。這里的處理單元6具備處理運(yùn)算能力,可將數(shù)字信號通過一定的運(yùn)算和處理,計(jì)算出空間各點(diǎn)的電磁參數(shù)分布特性,終得出該介質(zhì)I對電磁波的響應(yīng)特性。由于需要采集空間中非常多的離散點(diǎn),因此整個采集過程會非常漫長,實(shí)驗(yàn)人員不可能始終在掃描系統(tǒng)守候直到掃描完成。但是一旦實(shí)驗(yàn)人員不在現(xiàn)場,當(dāng)掃描系統(tǒng)出現(xiàn)異常如移動電機(jī)燒壞、室內(nèi)溫度過高等情況時,將造成系統(tǒng)損壞甚至其他不可預(yù)測的危害。
電磁場近場掃描裝置包括探頭、空間移動平臺、顯微攝像裝置、信號分析裝置和計(jì)算機(jī),探頭固定于空間移動平臺,空間移動平臺根據(jù)計(jì)算機(jī)的指令移動,以使探頭移動,探頭逐點(diǎn)掃描待測物品的電磁場近場,獲得電信號數(shù)據(jù)(例如電壓數(shù)據(jù)、電流數(shù)據(jù)等),信號分析裝置分析電信號數(shù)據(jù)獲得測量數(shù)據(jù),同時顯微攝像裝置準(zhǔn)確監(jiān)測探頭在移動過程中與待測物品之間的距離,獲得距離數(shù)據(jù),計(jì)算機(jī)根據(jù)測量數(shù)據(jù)和距離數(shù)據(jù)處理獲得待測物品的電磁場近場掃描結(jié)果。另外本發(fā)明還提供上述電磁場近場掃描裝置的掃描方法。對于供應(yīng)商而言,極近場EMI掃描技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)極具說服力的頻譜掃描。
PCB近場掃描儀FLS106PCBset的目的是,方便近場探頭檢測電子元件組的磁場或電場。掃描儀和近場探頭系列(從SX到LF)的組合可以測量頻率范圍為100kHz-10GHz的電場或磁場。該近場探頭可以在元件組上方沿三個軸運(yùn)動。近場探頭在受試設(shè)備上方的光學(xué)定位可以在數(shù)字顯微相機(jī)的協(xié)助下完成。掃描儀支持防撞功能,在探頭沿垂直方向運(yùn)動觸碰到受試設(shè)備時停止運(yùn)動。PCB近場掃描儀FLS106PCBset的目的是方便近場探頭檢測電子元件組的磁場和電場,掃描儀和近場探頭系列的組合可以測量頻率范圍為100KHz-10GHz的電磁和磁場。該近場探頭可以在元件組上方沿三個軸運(yùn)動。近場探頭在受測設(shè)備上方的光學(xué)定位可以在數(shù)字顯微鏡的協(xié)助下完成,掃描支持防撞功能,在探頭沿垂直方向運(yùn)動觸碰到受試設(shè)備時停止運(yùn)動,在電腦上通過ChipScan-Scanner軟件可以控制FLS106PCB型掃描儀。這款軟件同時可以從頻譜分析儀中讀取測量數(shù)據(jù)(2D或3D)圖像,以及輸出測量數(shù)據(jù)(CSV文件)。避免遠(yuǎn)場測量的空氣衍射問題:大型揚(yáng)聲器的遠(yuǎn)場測量需要大型消聲室以確保遠(yuǎn)場條件。西安高精度近場掃描怎么使用
SSCG功能為“開”時的EMI輻射特性 。上海天線近場掃描原理
輻射近場測量需要解決的問題:(1)考慮探頭與被測天線多次散射耦合的理論公式:在前述的理論中,所有的理論公式都是在忽略多次散射耦合條件下而得出的,這些公式對常規(guī)天線的測量有一定的精度,但對低副瓣或很低副瓣天線測量就必需考慮這些因素,因此,需要建立嚴(yán)格的耦合方程。(2)近場測量對天線口徑場診斷的精度和速度:近場測量對常規(guī)陣列天線口徑場的診斷有較好的診斷精度,但對于很低副瓣天線陣列而言,診斷精度和速度還需要進(jìn)一步研究。(3)輻射近場掃頻測量的研究:就一般情況而言,天線都在一個頻帶內(nèi)工作,因此,各項(xiàng)電指標(biāo)都是頻率的函數(shù),為了快速獲得各個頻率點(diǎn)的電指標(biāo),就需要進(jìn)行掃頻測量。掃頻測量的理論與點(diǎn)頻的理論完全一樣,只是在探頭掃描時,收發(fā)測量系統(tǒng)作掃頻測量。上海天線近場掃描原理
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