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來源: 發(fā)布時(shí)間:2022-03-25

可視化EFT抗擾度診斷分析系統(tǒng)—ES26-EFT整體介紹:電子產(chǎn)品在做脈沖群抗擾度測試時(shí),通過電源端口、I/O端口直接注入或者耦合注入的EMS干擾,會引起產(chǎn)品的死機(jī)、重啟、性能功能 下降等異常,甚至?xí)?dǎo)致直接硬件損壞。在解決此類問題時(shí),比較大的困難在于注入到產(chǎn)品內(nèi)部的干擾不僅會通過走線串?dāng)_到PCB板內(nèi)部各 敏感電路導(dǎo)致故障,而且會通過電源平面、地平面等傳導(dǎo)到電路的各部分,所以很難定位到真實(shí)受擾的電路或者器件??梢暬疎FT診斷分析系統(tǒng),通過小范圍磁場耦合的方式,精確分析敏感電路,量化敏感等級,可視化的呈現(xiàn)敏感區(qū)域,可用于產(chǎn)品研發(fā)中的EFT問題診斷分析, 快速解決產(chǎn)品問題,提高研發(fā)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。處理后端輸出整流管的吸收電路和初級大電路并聯(lián)電容的大小。手機(jī)無線性能分析儀價(jià)格

近場掃描測試能計(jì)入環(huán)境影響嗎?近場測試是測的近場的表面電流,或者說很近的電磁場,然后再計(jì)算成遠(yuǎn)場的方向圖,這顯然是無法考慮附近金屬體的影響的,其實(shí)近場測試只是對方向性高的陣列天線比較適用,到了邊上的話計(jì)算出的場也是不準(zhǔn)的,需要校準(zhǔn).我覺得如果你把金屬考慮進(jìn)去,一起測試比如一塊大的ground,那也會是比較準(zhǔn)確的。通過上述實(shí)施方式,其具有X、Y、Z及極化軸四軸運(yùn)動(dòng)能力,可以有效捕捉水平方向傳播的波譜信息,能夠容易地調(diào)整掃描架與待測設(shè)備之間的距離,自動(dòng)化程度高,測試效率高。鄭州電磁場無線性能系統(tǒng)價(jià)格傳導(dǎo)干擾是指通過導(dǎo)電介質(zhì)把一個(gè)電網(wǎng)絡(luò)上的信號耦合(干擾)到另一個(gè)電網(wǎng)絡(luò)。

EMI設(shè)計(jì)要點(diǎn)很多初學(xué)者對于EMI設(shè)計(jì)都摸不著頭腦,其實(shí)我當(dāng)初也是一樣,但是在做了幾次設(shè)計(jì)以后,也逐漸有了一些體會。首先,對于大腦里面一定要清楚一個(gè)概念--在高頻里面,自由空間的阻抗是377歐姆,對于一般的EMI中的空間輻射來說,是由于信號的回路到了可以和空間阻抗相比擬的地步,因而信號通過空間“輻射”出來。瞭解了這一點(diǎn),要做的就是把信號回路的阻抗降下來??刂菩盘柣芈返淖杩?,主要的辦法是縮短信號的長度,減少回路的面積,其次是採取合理的端接,控制回路的反射。其實(shí)控制信號回路的一個(gè)簡單的辦法就是對重點(diǎn)信號進(jìn)行包地處理(在兩邊近的距離走地線,尤其是雙面板要特別注意,因?yàn)殡p面微帶模型阻抗有150歐姆,和自由空間布相上下,而包地可以提供幾十歐姆的阻抗),請注意由于走線本身在高頻里面也是有阻抗的,所以好採用地平面或者地線多次接過孔到地平面。我很多的設(shè)計(jì)都是在採用包地以后,避免了時(shí)鐘信號的輻射超標(biāo)。

可視化近場輻射診斷分析系統(tǒng)—ES67產(chǎn)品特點(diǎn):【高效】:掃描速度快,測量時(shí)間短,自動(dòng)化測量,省時(shí)、高效;【精確】:頻率分辨率高、噪聲源定位精確,數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可信,清楚的分析電磁兼容三要素;【一致】:空間定位精度高,測試數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)保存,可重復(fù)精度高,測量一致性高;【靈敏】:測量系統(tǒng)底噪低,測量靈敏度高,準(zhǔn)確測量分析小信號的輻射和干擾問題;【可視】:輻射干擾源分布及噪聲位置與芯片、器件、電路走線直接對應(yīng),分析結(jié)果直觀可視;【智能】:較強(qiáng)噪聲源、各頻率點(diǎn)噪聲、全頻譜特性等多維度智能分析,自動(dòng)生成測試分析報(bào)告。電磁波不需要依靠介質(zhì)傳播,各種電磁波在真空中速率固定,速度為光速。

輻射近場測量需要解決的問題:(1)考慮探頭與被測天線多次散射耦合的理論公式:在前述的理論中,所有的理論公式都是在忽略多次散射耦合條件下而得出的,這些公式對常規(guī)天線的測量有一定的精度,但對低副瓣或很低副瓣天線測量就必需考慮這些因素,因此,需要建立嚴(yán)格的耦合方程。(2)近場測量對天線口徑場診斷的精度和速度:近場測量對常規(guī)陣列天線口徑場的診斷有較好的診斷精度,但對于很低副瓣天線陣列而言,診斷精度和速度還需要進(jìn)一步研究。(3)輻射近場掃頻測量的研究:就一般情況而言,天線都在一個(gè)頻帶內(nèi)工作,因此,各項(xiàng)電指標(biāo)都是頻率的函數(shù),為了快速獲得各個(gè)頻率點(diǎn)的電指標(biāo),就需要進(jìn)行掃頻測量。掃頻測量的理論與點(diǎn)頻的理論完全一樣,只是在探頭掃描時(shí),收發(fā)測量系統(tǒng)作掃頻測量。人們周邊所有的物體時(shí)刻都在進(jìn)行電磁輻射。鄭州電磁場無線性能系統(tǒng)價(jià)格

很難找到導(dǎo)致EMI的模擬信號和/或數(shù)字信號,歡迎來電咨詢。手機(jī)無線性能分析儀價(jià)格

可視化輻射抗擾度診斷分析系統(tǒng)—IS32產(chǎn)品特點(diǎn):【高復(fù)現(xiàn)】模擬實(shí)際失效場景,采用射頻干擾耦合注入方式,極大的提高實(shí)際問題的復(fù)現(xiàn)幾率,方便問題分析;【高精度】視覺定位和機(jī)械手臂聯(lián)動(dòng)運(yùn)行,高精度的定位敏感源位置,方便分析問題源頭和失效機(jī)理;【可量化】準(zhǔn)確模擬干擾距離、干擾功率、干擾頻率等參數(shù),并建立數(shù)據(jù)與實(shí)際問題現(xiàn)象的對應(yīng)關(guān)系,將問題量化;【可視化】敏感源的分布可視化呈現(xiàn),測量結(jié)果與實(shí)際產(chǎn)品直接對應(yīng);【多功能】可用于板級輻射抗擾度、射頻干擾、射頻抗擾度等多種復(fù)雜抗擾度問題的測量與分析。應(yīng)用領(lǐng)域:■芯片、器件、模組件輻射抗擾度(RS)測量與診斷分析;■射頻抗干擾(Desense)測量與診斷分析;■板級輻射抗擾度(RS)測量與診斷分析;■射頻干擾(RFI)測量與診斷分析。手機(jī)無線性能分析儀價(jià)格

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