探索LIMS在綜合第三方平臺建設(shè)
高校實(shí)驗(yàn)室引入LIMS系統(tǒng)的優(yōu)勢
高校實(shí)驗(yàn)室中LIMS系統(tǒng)的應(yīng)用現(xiàn)狀
LIMS應(yīng)用在生物醫(yī)療領(lǐng)域的重要性
LIMS系統(tǒng)在醫(yī)藥行業(yè)的應(yīng)用
LIMS:實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng)的模塊組成
如何選擇一款適合的LIMS?簡單幾步助你輕松解決
LIMS:解決實(shí)驗(yàn)室管理的痛點(diǎn)
實(shí)驗(yàn)室是否需要采用LIMS軟件?
LIMS系統(tǒng)在化工化學(xué)行業(yè)的發(fā)展趨勢
輻射雜散快速測試系統(tǒng)— TS13整體介紹:輻射雜散性能是帶有無線射頻功能的電子產(chǎn)品的關(guān)鍵性能指標(biāo),并且,影響輻射雜散性能的因素特別復(fù)雜,在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)階段都需要保證輻射雜散方案性能的可靠性和一致性。標(biāo)準(zhǔn)全電波暗室測試方案成本高,測試時(shí)間長,不能滿足研發(fā)階段的快速分析測試及生產(chǎn)階段的批量一致性抽檢。輻射雜散快速測試系統(tǒng),采用多天線、多角度快速切換測試,既保證了測試結(jié)果的準(zhǔn)確性,又縮短了測試時(shí)間,提升了測試效率,并且在性能分析時(shí)可以快速定位雜散信號的方向。系統(tǒng)占用空間小,可便捷移動,可用于產(chǎn)品研發(fā)階段輻射雜散問題分析及生產(chǎn)階段的批量抽檢。人們周邊所有的物體時(shí)刻都在進(jìn)行電磁輻射。武漢多媒體無線性能掃描儀
PCB近場掃描儀FLS106PCBset的目的是,方便近場探頭檢測電子元件組的磁場或電場。掃描儀和近場探頭系列(從SX到LF)的組合可以測量頻率范圍為100kHz-10GHz的電場或磁場。該近場探頭可以在元件組上方沿三個軸運(yùn)動。近場探頭在受試設(shè)備上方的光學(xué)定位可以在數(shù)字顯微相機(jī)的協(xié)助下完成。掃描儀支持防撞功能,在探頭沿垂直方向運(yùn)動觸碰到受試設(shè)備時(shí)停止運(yùn)動。PCB近場掃描儀FLS106PCBset的目的是方便近場探頭檢測電子元件組的磁場和電場,掃描儀和近場探頭系列的組合可以測量頻率范圍為100KHz-10GHz的電磁和磁場。該近場探頭可以在元件組上方沿三個軸運(yùn)動。廣東5G無線性能系統(tǒng)價(jià)格瞭解了這一點(diǎn),要做的就是把信號回路的阻抗降下來。
輻射近場掃頻測量的研究,就一般情況而言,天線都在一個頻帶內(nèi)工作,因此,各項(xiàng)電指標(biāo)都是頻率的函數(shù),為了快速獲得各個頻率點(diǎn)的電指標(biāo),就需要進(jìn)行掃頻測量。掃頻測量的理論與點(diǎn)頻的理論完全一樣,只是在探頭掃描時(shí),收發(fā)測量系統(tǒng)作掃頻測量。時(shí)域輻射近場測量的研究,為了反映脈沖工作狀態(tài)和消除環(huán)境及其他因素對測量數(shù)據(jù)的影響,時(shí)域測量是一個良好的解決此類問題的途徑,但目前處于研究階段。前述的輻射近場測量方法都需要測量出近場的相位和幅度,才能利用近場理論計(jì)算出天線的遠(yuǎn)場電特性,為了簡化計(jì)算公式和測量系統(tǒng)以及降低測量時(shí)間與測量的相位誤差(在頻率f很高的情況下,即f>80GHz,相位的測量誤差是很大的)。
預(yù)測試系統(tǒng)——預(yù)測試系統(tǒng)和標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)相比,具有如下優(yōu)勢:1.建造成本低;2.測試精度接近;3.高效率分析問題;4.承擔(dān)90%研發(fā)測試工作量;5.無人員資質(zhì)要求;6.后期維護(hù)費(fèi)用低??筛鶕?jù)如下系列標(biāo)準(zhǔn)要求定制方案:國軍標(biāo):GJB151B;汽車電子:CISPR12/25、ISO11452.、ISO7637、ISO10605;民品:CISPR11/14/15/32/35、IEC61547、IEC61000-6.;通用標(biāo)準(zhǔn):IEC61000-3-2/3、IEC61000-4-2/3/4/5/6/8/11;無線射頻:EN300386、EN301489.····················EMCCTIA、3GPPTS25/34/37.、YD1484/2869.···OTA3GPP138521.、EN301511、EN301908.·······RSEEN300220/330/440、EN300328/301893······RSEEN301893/302502························DFS。很難找到導(dǎo)致EMI的模擬信號和/或數(shù)字信號,歡迎來電咨詢。
可視化近場輻射診斷分析系統(tǒng)—ES67產(chǎn)品特點(diǎn):【高效】:掃描速度快,測量時(shí)間短,自動化測量,省時(shí)、高效;【精確】:頻率分辨率高、噪聲源定位精確,數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可信,清楚的分析電磁兼容三要素;【一致】:空間定位精度高,測試數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)保存,可重復(fù)精度高,測量一致性高;【靈敏】:測量系統(tǒng)底噪低,測量靈敏度高,準(zhǔn)確測量分析小信號的輻射和干擾問題;【可視】:輻射干擾源分布及噪聲位置與芯片、器件、電路走線直接對應(yīng),分析結(jié)果直觀可視;【智能】:較強(qiáng)噪聲源、各頻率點(diǎn)噪聲、全頻譜特性等多維度智能分析,自動生成測試分析報(bào)告。時(shí)脈訊號、高頻訊號等,在PCB設(shè)計(jì)時(shí)進(jìn)行包地處理,并打些地孔,可有效降低EMI。武漢多媒體無線性能掃描儀
只要是本身溫度大于一定零度的物體,都可以發(fā)射電磁輻射,而世界上并不存在溫度等于或低于一定零度的物體。武漢多媒體無線性能掃描儀
輻射近場測量需要解決的問題:(1)考慮探頭與被測天線多次散射耦合的理論公式:在前述的理論中,所有的理論公式都是在忽略多次散射耦合條件下而得出的,這些公式對常規(guī)天線的測量有一定的精度,但對低副瓣或很低副瓣天線測量就必需考慮這些因素,因此,需要建立嚴(yán)格的耦合方程。(2)近場測量對天線口徑場診斷的精度和速度:近場測量對常規(guī)陣列天線口徑場的診斷有較好的診斷精度,但對于很低副瓣天線陣列而言,診斷精度和速度還需要進(jìn)一步研究。(3)輻射近場掃頻測量的研究:就一般情況而言,天線都在一個頻帶內(nèi)工作,因此,各項(xiàng)電指標(biāo)都是頻率的函數(shù),為了快速獲得各個頻率點(diǎn)的電指標(biāo),就需要進(jìn)行掃頻測量。掃頻測量的理論與點(diǎn)頻的理論完全一樣,只是在探頭掃描時(shí),收發(fā)測量系統(tǒng)作掃頻測量。武漢多媒體無線性能掃描儀
揚(yáng)芯科技(深圳)有限公司是一家生產(chǎn)型類企業(yè),積極探索行業(yè)發(fā)展,努力實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品創(chuàng)新。是一家私營股份有限公司企業(yè),隨著市場的發(fā)展和生產(chǎn)的需求,與多家企業(yè)合作研究,在原有產(chǎn)品的基礎(chǔ)上經(jīng)過不斷改進(jìn),追求新型,在強(qiáng)化內(nèi)部管理,完善結(jié)構(gòu)調(diào)整的同時(shí),良好的質(zhì)量、合理的價(jià)格、完善的服務(wù),在業(yè)界受到寬泛好評。公司始終堅(jiān)持客戶需求優(yōu)先的原則,致力于提供高質(zhì)量的近場輻射問題解決方案,?輻射抗擾度問題解決方案,輻射雜散預(yù)測試系統(tǒng),射頻干擾問題解決方案。揚(yáng)芯科技以創(chuàng)造***產(chǎn)品及服務(wù)的理念,打造高指標(biāo)的服務(wù),引導(dǎo)行業(yè)的發(fā)展。