近場(chǎng)EMI測(cè)量的問(wèn)題在于使用近場(chǎng)探頭的測(cè)量結(jié)果和使用天線進(jìn)行遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量的結(jié)果無(wú)法直接進(jìn)行數(shù)學(xué)轉(zhuǎn)換。但是存在一個(gè)基本原理：近場(chǎng)的輻射越大，遠(yuǎn)場(chǎng)的輻射也必然越大。所以使用近場(chǎng)探頭測(cè)量，實(shí)際上是一個(gè)相對(duì)量的測(cè)量，而不是精確的一定量測(cè)量。使用近場(chǎng)探頭進(jìn)行EMI預(yù)兼容測(cè)試時(shí)，我們常常把新被測(cè)件測(cè)試結(jié)果和一個(gè)已知合格被測(cè)件的近場(chǎng)探頭測(cè)試（近場(chǎng)測(cè)試）結(jié)果進(jìn)行比較，來(lái)預(yù)測(cè)EMI輻射泄漏測(cè)試（遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試）的結(jié)果，而不是直接和符合EMI兼容標(biāo)準(zhǔn)的限制線進(jìn)行比較。同時(shí)，測(cè)試的一定數(shù)值意義也不大，因?yàn)檫@個(gè)測(cè)試結(jié)果和諸多變量，包括探頭的位置方向、被測(cè)件的形狀等會(huì)密切相關(guān)。電場(chǎng)要比磁場(chǎng)強(qiáng)得多，對(duì)于電壓低電流大的場(chǎng)源(如某些感應(yīng)加熱設(shè)備的模具)，磁場(chǎng)要比電場(chǎng)大得多。廣東電氣電力近場(chǎng)輻射

多功能輻射檢測(cè)儀可普遍用在制藥廠，實(shí)驗(yàn)室，發(fā)電廠，采石場(chǎng)，緊急狀況營(yíng)救站，金屬處理廠，地下油田和供油管道裝備，環(huán)境保護(hù)，警察局等部門(mén)，用于：家居裝飾的檢測(cè)、檢查地下水,鐳污染、檢查地下鉆管和設(shè)備的放射性、檢查周?chē)h(huán)境的氡輻射銫污染、檢查石材等建筑材料的放射性、檢查瓷器餐具玻璃杯等的放射性、檢查局部的輻射泄露和核輻射污染、檢查有核輻射危險(xiǎn)的填埋地和垃圾場(chǎng)、檢查個(gè)人的貴重財(cái)產(chǎn)和珠寶的有害輻射、檢測(cè)從醫(yī)用到工業(yè)的X射線儀的X射線強(qiáng)度、USB接口，自動(dòng)存儲(chǔ)記錄xαβγ射線選擇開(kāi)關(guān)、數(shù)值實(shí)時(shí)遠(yuǎn)傳電腦顯示、屏幕高清晰LCD顯示。廣東電氣電力近場(chǎng)輻射近區(qū)場(chǎng)通常具有如下特點(diǎn)：近區(qū)場(chǎng)內(nèi)，電場(chǎng)強(qiáng)度與磁場(chǎng)強(qiáng)度的大小沒(méi)有確定的比例關(guān)系。

近場(chǎng)探頭用于在研發(fā)階段測(cè)量電子模塊上的電場(chǎng)和磁場(chǎng)，頻率范圍為30MHz到3GHz。利用RF1探頭組的探頭，可以實(shí)現(xiàn)緊貼電子模塊測(cè)量，比如貼近單個(gè)IC引腳、導(dǎo)線、元器件及其連接點(diǎn)測(cè)量，從而定位干擾信號(hào)源。通過(guò)相應(yīng)地操作近場(chǎng)探頭，能夠測(cè)量出電子模塊上電磁場(chǎng)的方向及其分布。隨著5G時(shí)代的推進(jìn)，智能終端產(chǎn)品作為寬帶射頻應(yīng)用大的消費(fèi)市場(chǎng)面臨著一系列開(kāi)發(fā)與驗(yàn)證的問(wèn)題。其中，越來(lái)越小的設(shè)計(jì)空間與近場(chǎng)探頭電磁輻射雜散性能之間的矛盾，將是商業(yè)研究人員開(kāi)發(fā)和驗(yàn)證中面臨的巨大挑戰(zhàn)。若要以更高的精度、更強(qiáng)的自信探索開(kāi)創(chuàng)性的概念，來(lái)推動(dòng)現(xiàn)有技術(shù)發(fā)展、以創(chuàng)新創(chuàng)造**、將5G愿景轉(zhuǎn)變?yōu)楝F(xiàn)實(shí)的過(guò)程中，我們不得不在工作中選擇更為適合我們的調(diào)試、測(cè)試解決方案。

輻射近場(chǎng)測(cè)量方法都需要測(cè)量出近場(chǎng)的相位和幅度，才能利用近場(chǎng)理論計(jì)算出天線的遠(yuǎn)場(chǎng)電特性，為了簡(jiǎn)化計(jì)算公式和測(cè)量系統(tǒng)以及降低測(cè)量時(shí)間與測(cè)量的相位誤差（在頻率f很高的情況下，即f＞80GHz，相位的測(cè)量誤差是很大的），于是，有學(xué)者提出只用近場(chǎng)測(cè)量值的幅度來(lái)重建天線遠(yuǎn)場(chǎng)的方法。該方法的基本思想為［10］：測(cè)出S1，S2兩個(gè)面的幅度值（A1，A2），人為選定S1面測(cè)量值的相位（φ1），先由S1面的幅度、相位值（A1，φ1）計(jì)算出S2面的幅度、相位值（a2，φ2），用A2代替a2，再由A2，φ2求出S1面的a1，φ1，用A1代替a1，重新由A1，φ1求出S2面新的a2，φ2，如此迭代下去，直至A1-a1≤ε，A2-a2≤ε（ε為測(cè)量精度），便可得到S1或S2面的相位分布，這時(shí)，可由S1或S2實(shí)測(cè)的幅度和迭代過(guò)程所得到的相位求得天線的遠(yuǎn)場(chǎng)電特性。由于迭代收斂等原因，這方面的研究還未付諸實(shí)施。場(chǎng)的強(qiáng)度和天線的距離成反比(1/ r3)。

傳統(tǒng)的EMI輻射測(cè)試往往借助EMI接收機(jī)，在專(zhuān)業(yè)實(shí)驗(yàn)室的暗室里進(jìn)行，這固然可以對(duì)產(chǎn)品的整體EMI輻射做嚴(yán)格的測(cè)試，但往往測(cè)試周期長(zhǎng)、費(fèi)用較高，加之遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試只能測(cè)出結(jié)果，而不能給出具體輻射的位置，所以給產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和改善帶來(lái)不小的麻煩。隨著測(cè)試測(cè)量?jī)x器的發(fā)展，近幾年，近場(chǎng)探頭和頻譜分析儀的組合個(gè)EMI輻射的測(cè)試定位帶來(lái)了新的方向。為采用一個(gè)近場(chǎng)探頭和實(shí)時(shí)頻譜分析儀對(duì)一個(gè)電路進(jìn)行輻射源的查找，我們可以很清楚的觀測(cè)到在近場(chǎng)探頭附件有四個(gè)主要頻率的輻射，這對(duì)于硬件工程師進(jìn)行設(shè)計(jì)的改善是具有極大幫助的。對(duì)近場(chǎng)似乎還沒(méi)有正式的定義，它取決于應(yīng)用本身和天線。廣東電氣電力近場(chǎng)輻射

在數(shù)學(xué)上的電場(chǎng)強(qiáng)度，可以被看作是兩個(gè)部分的總和。廣東電氣電力近場(chǎng)輻射

散射近場(chǎng)測(cè)量：當(dāng)輻射體變?yōu)樯⑸潴w時(shí)，輻射近場(chǎng)測(cè)量轉(zhuǎn)換為散射近場(chǎng)測(cè)量。由于散射體是無(wú)源的，因此需要一個(gè)照射源對(duì)其進(jìn)行照射，同輻射近場(chǎng)測(cè)量一樣，散射近場(chǎng)測(cè)量也有3種取樣方式，分別稱(chēng)為平面散射近場(chǎng)測(cè)量和柱面散射近場(chǎng)測(cè)量以及球面散射近場(chǎng)測(cè)量。平面散射近場(chǎng)已取得了許多研究成果，柱面、球面散射近場(chǎng)測(cè)量的研究成果公開(kāi)報(bào)道的文獻(xiàn)很少。散射體的散射特性通常用雷達(dá)散射截面（RadarCrossSection，簡(jiǎn)寫(xiě)為RCS）來(lái)衡量，有一定量和相對(duì)量之分，一定量一般是以一個(gè)已知散射體的RCS為標(biāo)準(zhǔn)來(lái)標(biāo)定待測(cè)散射體的RCS，標(biāo)準(zhǔn)值來(lái)自理論計(jì)算和測(cè)量值；相對(duì)量用散射方向圖來(lái)表示。廣東電氣電力近場(chǎng)輻射