測試室為出EMI報告而開展的掃描通常是在特殊條件下進行的，你的公司實驗室也許無法復制這些條件。舉例來說，待測設備（DUT）可能放在一個轉(zhuǎn)盤上，以便于從多個角度收集信號。這種方位角信息是很有用的，因為它能指示問題發(fā)生的DUT區(qū)域。或者EMI測試室可能在校準過的射頻房內(nèi)開展他們的測量，并報告作為強場的測量結(jié)果。幸運的是，你并不需要完全復制測試室的條件才能排查EMI測試故障。與在高度受控的EMI測試線上執(zhí)行的一定測量不同，可以使用測試報告中的信息、深入理解用于產(chǎn)生報告的測量技術以及對待測設備周邊的相對觀察以隔離問題源并估計糾正有效性來開展問題的排查工作。在同一臺儀器上問時域和頻域為快速分析有害輻射創(chuàng)造了條件。消費電子EMI診斷標準

EMC測試伴隨著產(chǎn)品研制的全過程，眾所周知，一個產(chǎn)品的電磁兼容性能是否達標靠什么證明呢？無疑是試驗，試驗是檢驗產(chǎn)品性能好壞的單獨手段。然而，EMC試驗不單單承擔對產(chǎn)品性能終檢驗的任務，在產(chǎn)品設計階段也需要有輔助試驗手段檢驗每一個設計思想及每一項設計措施是否正確。特別是復雜的電子系統(tǒng)，在方案論證階段需要制定EMC試驗規(guī)范，在單機設備初樣、正樣研制階段需要對每項EMC指標進行測量，組成系統(tǒng)之后需要進行系統(tǒng)級的EMC測試。系統(tǒng)級EMC測試的目的一方面檢驗系統(tǒng)自身兼容性，另一方面檢驗該電子系統(tǒng)與特定的工作環(huán)境是否兼容。消費電子EMI診斷標準準峰值是EMI測量標準定義的一種方法，用來檢測信號包絡的加權峰值。

電路板上的組件成為輻射來源，由于所使用的IC或CPU本身在運作時產(chǎn)生很大的輻射﹐使得EMI測試無法通過﹐卵石種情往往在經(jīng)過（1）﹑（2）﹑（3）的分析后噪聲依然存在﹐通常解決的方法不外換一個類似的組件﹐看EMI特性是否會好一些。另外就是電路板重新布線時﹐將其擺放于影響小的位置﹐也就是附近沒有I/OPort及連接線等經(jīng)過﹐當然若情況允許﹐將整個組件用金屬外殼包覆（Shielding）也是一種快速有效的方法。由以上的分析介紹我們可以了解﹐造成電磁干擾輻射關鍵的地方就是電線的問題﹐當有了適當?shù)奶炀€條件存在很容易就產(chǎn)生干擾﹐另外電源線往往亦是造成天線效應的主因﹐這是在許EMI對策中容易疏忽的。

對于EMI傳導的部分，重點是要用好旁路電容和去藕電容。旁路電容（提供一條交流短路線）一定要以短的連線佈置在晶片電源管腳和地線（平面）上。去藕電容要放在電流需求變化大的地方，避免因為走線的阻抗（電感），讓雜訊從電源和地線上藕合出去。當然，合理串聯(lián)使用磁珠，可以“吸收”（轉(zhuǎn)換成熱能）這些雜訊。電感有時也可以用來濾除雜訊，但是請注意電感本身也是有頻率響應范圍的，而且封裝也決定其頻率響應……以上是一些基本的體會，對于EMI設計來說，需要你真正瞭解你自己的設計，什麼地方需要重點照顧，什麼地方出了問題會是什麼樣的現(xiàn)象，備選方案是什麼，都需要預先整理好。EMI測試室可能在校準過的射頻房內(nèi)開展他們的測量，并報告作為強場的測量結(jié)果。

EMI設計要點很多初學者對于EMI設計都摸不著頭腦，其實我當初也是一樣，但是在做了幾次設計以后，也逐漸有了一些體會。首先，對于大腦里面一定要清楚一個概念－－在高頻里面，自由空間的阻抗是377歐姆，對于一般的EMI中的空間輻射來說，是由于信號的回路到了可以和空間阻抗相比擬的地步，因而信號通過空間“輻射”出來。瞭解了這一點，要做的就是把信號回路的阻抗降下來?？刂菩盘柣芈返淖杩?，主要的辦法是縮短信號的長度，減少回路的面積，其次是採取合理的端接，控制回路的反射。其實控制信號回路的一個簡單的辦法就是對重點信號進行包地處理（在兩邊近的距離走地線，尤其是雙面板要特別注意，因為雙面微帶模型阻抗有150歐姆，和自由空間布相上下，而包地可以提供幾十歐姆的阻抗），請注意由于走線本身在高頻里面也是有阻抗的，所以好採用地平面或者地線多次接過孔到地平面。我很多的設計都是在採用包地以后，避免了時鐘信號的輻射超標。全世界幾乎所有有關部門都在嘗試控制他們國家生產(chǎn)的電子產(chǎn)品產(chǎn)生的有害電磁干擾（EMI）。浙江芯片EMI診斷測試方式

待測設備（DUT）可能放在一個轉(zhuǎn)盤上，以 便于從多個角度收集信號。消費電子EMI診斷標準

接下來做什么？電源是EMI干擾噪聲的主要來源，示波器的電源諧波分析在這類排查工作中很有潛力。我們不久將討論這一方面的內(nèi)容。排查EMI是否一致的四種基本方法：全世界幾乎所有有關部門都在嘗試控制他們國家生產(chǎn)的電子產(chǎn)品產(chǎn)生的有害電磁干擾（EMI）。為了向用戶提供一定的保護和安全等級，有關部門都會制訂涉及電子產(chǎn)品設計的非常特殊的一些規(guī)則和規(guī)定。當然這是好事。但這也意味著為了盡量減少他們的EMI特征并通過官方的EMI認證測試，許多公司必須在產(chǎn)品設計和測試方面花費大量的人力物力。壞消息是，即使采用了好的設計原理、選擇了高質(zhì)量的元件并且仔細地表征了產(chǎn)品，當進行一致性測試時，如果測試并不是所有階段都進展順利，那么EMI故障仍有可能影響到產(chǎn)品的發(fā)布日程。消費電子EMI診斷標準

揚芯科技（深圳）有限公司專注技術創(chuàng)新和產(chǎn)品研發(fā)，發(fā)展規(guī)模團隊不斷壯大。公司目前擁有較多的高技術人才，以不斷增強企業(yè)重點競爭力，加快企業(yè)技術創(chuàng)新，實現(xiàn)穩(wěn)健生產(chǎn)經(jīng)營。公司業(yè)務范圍主要包括：近場輻射問題解決方案，?輻射抗擾度問題解決方案，輻射雜散預測試系統(tǒng)，射頻干擾問題解決方案等。公司奉行顧客至上、質(zhì)量為本的經(jīng)營宗旨，深受客戶好評。公司力求給客戶提供全數(shù)良好服務，我們相信誠實正直、開拓進取地為公司發(fā)展做正確的事情，將為公司和個人帶來共同的利益和進步。經(jīng)過幾年的發(fā)展，已成為近場輻射問題解決方案，?輻射抗擾度問題解決方案，輻射雜散預測試系統(tǒng)，射頻干擾問題解決方案行業(yè)出名企業(yè)。