相位噪聲是許多現(xiàn)代電子系統(tǒng)和設備的一項重要技術指標和關鍵性技術問題，通過相位噪聲的表征和測試的研究，找到影響頻率源穩(wěn)定性的因素，可應用于測控系統(tǒng)，衡量其頻率源的質量。相位噪聲是許多現(xiàn)代電子系統(tǒng)和設備(包括測控、雷達、通信、導航、干涉儀、射電天文、電子測量和近代物理實驗等)的一項重要技術指標和關鍵性技術問題，通過相位噪聲的表征和測試的研究，找到影響頻率源穩(wěn)定性的因素，可應用于頻率源的設計和研制提高頻率源的質量。相位噪聲從頻域描述了信號頻率的穩(wěn)定度，是描述信號質量的重要指標。APPH系列相噪分析儀相位噪聲測量

相位噪聲與幅度噪聲相位噪聲可以通過多種方式引入電路，尤其是在使用頻率合成器時。然而，對于振蕩器，相位噪聲的來源是“熱”和“閃爍”或1/f噪聲。由于大多數(shù)振蕩器在飽和狀態(tài)下運行，這限制了噪聲的振幅分量，通常比相位噪聲分量低20dB左右。這意味著相位噪聲占主導地位，因此幅度噪聲通常被忽略。這個假設對于大多數(shù)應用都是正確的，但不應忘記振幅分量，因為在某些應用中可能需要考慮它們。相位噪聲是由于存在相位抖動而散布到信號兩側的噪聲頻譜。相位噪聲對RF設計人員尤為重要。相位抖動本身表現(xiàn)為相位噪聲，散布在主要有用載波的任一側。在大多數(shù)情況下，與載波的偏移越遠，它的電平就越低。上海APPH40G相噪分析儀價格AnaPico APPH系列高性能相位噪聲分析儀頻率輸入范圍分別覆蓋1MHz至65GHz，頻偏范圍0.01Hz至100MHz。

    相位噪聲指標是射頻、微波領域一項非常關鍵的指標，相位噪聲指標的測試是研發(fā)、設計、生產(chǎn)、調試必須進行測試的一項指標，測試準確度要求較高，需要考慮的因素較多。數(shù)字相位解調法不需要鎖相環(huán)，無需環(huán)路帶寬內的噪聲抑制補償，相同靈敏度下，極大提高測試效率。數(shù)字相位解調法非常易于實現(xiàn)脈沖相位噪聲，附加相位噪聲，脈沖附加相位噪聲測試，VCO測試及瞬態(tài)測試等多項測試要求，可以極大的滿足多方面測試要求。并且可以進行多種測試需求的并行測量。同時數(shù)字相位解調法測試比較簡單，無需復雜的操作設置，測試速度快。尤其是數(shù)字相位解調法基礎之上增加互相關算法進行測試，使得測試靈敏度極高，是目前進行相位噪聲測試以及其他相關測試比較好異的測試方法和手段。

隨機抖動與相位噪聲有什么關系呢？時間抖動就是指載波信號上升沿或者下降沿在時間軸上的短期波動，隨機抖動是由于寬帶噪聲引起的邊沿無規(guī)則隨機波動，這與相位噪聲是一一對應的，邊沿的波動是各個頻偏處相噪的綜合體現(xiàn)。載波邊沿的隨機波動，存在一個波動范圍，從概率密度上講，基本服從高斯分布，通常采用標準差表征隨機抖動，這也是隨機抖動的有效值，也是通常要測試的參數(shù)。時間抖動引起了相位的波動，只要確定了相位波動的量，那么也就確定了時間抖動。相位噪聲分析儀可測量相位噪聲、剩余相位噪聲、附加相位噪聲。

目前的相位噪聲測試方法是進行直接I/Q調整測量，轉換為Sf(f)，然后計算L(f)的直接數(shù)字調整方法。直接數(shù)字解調法沒有相位檢測器和鎖相環(huán)，因此不需要修改環(huán)路帶寬，從而簡化了校準過程。該測試方法不僅可以測量CW相位噪聲，還可以在測量相位噪聲的同時測量振幅噪聲，還可以使用極低的參考源相位噪聲、高速互相關硬件，提高測試的靈敏度。另外，在有大信號的情況下，可以測量小水平信號的相位噪聲。目前，RS相噪聲分析儀FSPN和FSWP采用了這一技術。APPH系列是是一款功能齊全的高性能信號源分析儀/相噪分析儀。福建APPH6040相噪分析儀廠家現(xiàn)貨

APPH相位噪聲分析儀具有極低的儀器本底噪聲。APPH系列相噪分析儀相位噪聲測量

延遲線法是把被測信號分成兩路，一路信號經(jīng)過延遲線后與另一路經(jīng)過一個移相器移相后的信號進行鑒相，然后再濾波放大分析。延遲線的作用是將頻率的變化轉化為相位的變化，當頻率變化時，將在延遲線中引起相位正比例的變化。雙平衡混頻器將相位變化轉化為電壓變化。該測試方法具有載波抑制、調幅噪聲測試功能，測試時不需要額外的參考源，不需要信號同步，頻率漂移不再是問題。但是該測試方法比較大頻偏范圍受限，高頻時損耗較大，使得測試靈敏度較低，而且測試時需要校準，操作較為復雜。APPH系列相噪分析儀相位噪聲測量

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