電子探針又稱(chēng)微區(qū)X射線光譜分析儀、X射線顯微分析儀。其原理是利用聚焦的高能電子束轟擊固體表面，使被轟擊的元素激發(fā)出特征X射線，按其波長(zhǎng)及強(qiáng)度對(duì)固體表面微區(qū)進(jìn)行定性及定量化學(xué)分析。主要用來(lái)分析固體物質(zhì)表面的細(xì)小顆粒或微小區(qū)域，**小范圍直徑為1μm左右。分析元素從原子序數(shù)3（鋰）至92（鈾）。***感量可達(dá)10-14至10-15g。近年形成了掃描電鏡-顯微分析儀的聯(lián)合裝置，可在觀察微區(qū)形貌的同時(shí)逐點(diǎn)分析試樣的化學(xué)成分及結(jié)構(gòu)。廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、冶金材料、水泥熟料研究等部門(mén)。如圖《電子探針示意圖》所示。電子探針是法國(guó)制成的，是在1949年用電子顯微鏡和X射線光譜儀組合而成。金山區(qū)優(yōu)勢(shì)探針推薦貨源

安全**介紹，WiFi探針盒子確實(shí)可以通過(guò)技術(shù)手段獲取個(gè)人信息，用戶(hù)為避免信息泄露，可以在出門(mén)后關(guān)閉手機(jī)連接WiFi的功能，并不要在一些不合規(guī)的APP上提供真實(shí)個(gè)人信息。律師表示，利用探針盒子獲取他人手機(jī)號(hào)等隱私信息的行為涉嫌侵犯他人隱私，可能面臨民事侵權(quán)責(zé)任及治安管理處罰責(zé)任。實(shí)現(xiàn)原理1. WiFi信道掃描工具WiFi探針實(shí)現(xiàn)原理示意圖這種神秘的Wi-Fi探針,實(shí)際是“WiFi信道掃描工具”。市面上的WiFi有2.4G、5G兩個(gè)頻段,每個(gè)頻段有不同的信道劃分,Wi-Fi探針設(shè)備通過(guò)在各個(gè)信道被動(dòng)監(jiān)測(cè),采集周?chē)臄?shù)據(jù)幀內(nèi)容,發(fā)現(xiàn)周邊手機(jī)、筆記本、路由器等無(wú)線設(shè)備,從而滿(mǎn)足客流統(tǒng)計(jì)、精細(xì)營(yíng)銷(xiāo)等需求。此外,這種“Wi-Fi信道掃描工具”處于被動(dòng)監(jiān)測(cè)模式,無(wú)需用戶(hù)主動(dòng)連接某個(gè)WiFi,*需打開(kāi)手機(jī)WiFi功能時(shí)即可捕獲。崇明區(qū)品牌探針商家后期生產(chǎn)的儀器，可作X射線背散射照相、照相。

電子探針儀（圖1）主要包括：探針形成系統(tǒng) (電子槍、加速和聚焦部件等)、X射線信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)和顯示、記錄系統(tǒng)、樣品室、高壓電源和掃描系統(tǒng)以及真空系統(tǒng)。電子探針的**早應(yīng)用領(lǐng)域是金屬學(xué)。對(duì)合金中各組成相、夾雜物等可作定性和定量分析，直觀而方便，還能較準(zhǔn)確地測(cè)定元素的擴(kuò)散和偏析情況。此外，它還可用于研究金屬材料的氧化和腐蝕問(wèn)題，測(cè)定薄膜、滲層或鍍層的厚度和成分等，是機(jī)械構(gòu)件失效分析、生產(chǎn)工藝的選擇、特殊用材的剖析等的重要手段。圖2為鎂合金中稀土氧化物在晶界析出的電子探針?lè)治稣掌?/p>

X射線譜儀能譜儀電子束轟擊樣品表面將產(chǎn)生特征X射線，不同的元素有不同的X射線特征波長(zhǎng)和能量。通過(guò)鑒別其特征波長(zhǎng)或特征能量就可以確定所分析的元素。利用特征波長(zhǎng)來(lái)確定元素的儀器叫做波長(zhǎng)色散譜儀（波譜儀），利用特征能量的就稱(chēng)為能量色散譜儀（能譜儀）。1、波譜儀波譜儀的關(guān)鍵在于怎樣實(shí)現(xiàn)將未知的特征譜線與已知元素Z聯(lián)系起來(lái)？為此設(shè)想有一種晶面間距為d的特定晶體（我們稱(chēng)為分光晶體），當(dāng)不同特征波長(zhǎng)λ的X射線照射其上時(shí)，如果滿(mǎn)足布拉格條件（2dsinθ=λ）將產(chǎn)生衍射。顯然，對(duì)于任意一個(gè)給定的入射角θ*有一個(gè)確定的波長(zhǎng)λ滿(mǎn)足衍射條件。這種神秘的Wi-Fi探針,實(shí)際是“WiFi信道掃描工具”。

利用電子探針?lè)治龇椒梢蕴街牧蠘悠返幕瘜W(xué)組成以及各元素的重量百分?jǐn)?shù)。分析前要根據(jù)試驗(yàn)?zāi)康闹苽錁悠?，樣品表面要清潔。用波譜儀分析樣品時(shí)要求樣品平整，否則會(huì)降低測(cè)得的X射線強(qiáng)度。定性分析1 點(diǎn)分析用于測(cè)定樣品上某個(gè)指定點(diǎn)的化學(xué)成分。下圖是用能譜儀得到的某鋼定點(diǎn)分析結(jié)果。能譜儀中的多道分析器可使樣品中所有元素的特征X射線信號(hào)同時(shí)檢測(cè)和顯示。不像波譜儀那樣要做全部譜掃描，甚至還要更換分光晶體。2 線分析用于測(cè)定某種元素沿給定直線分布的情況。方法是將X射線譜儀（波譜儀或能譜儀）固定在所要測(cè)量的某元素特征X射線信號(hào)（波長(zhǎng)或能量）的位置上，把電子束沿著指定的方向做直線軌跡掃描，便可得到該元素沿直線特征X射線強(qiáng)度的變化，從而反映了該元素沿直線的濃度分布情況。改變譜儀的位置，便可得到另一元素的X射線強(qiáng)度分布。下圖為50CrNiMo鋼中夾雜Al2O3的線分析像?？梢?jiàn)，在Al2O3夾雜存在的地方，Al的X射線峰較強(qiáng)。2019年曝光的WiFi探針技術(shù),甚至無(wú)需用戶(hù)主動(dòng)連接WiFi即可捕獲個(gè)人信息。松江區(qū)特制探針售價(jià)

電子束轟擊樣品表面將產(chǎn)生特征X射線，不同的元素有不同的X射線特征波長(zhǎng)和能量。金山區(qū)優(yōu)勢(shì)探針推薦貨源

電子探針（Electron Probe Microanalysis）是一種利用電子束作用樣品后產(chǎn)生的特征X射線進(jìn)行微區(qū)成分分析的儀器， [1]可以用來(lái)分析薄片中礦物微區(qū)的化學(xué)組成。除H、He、Li、Be等幾個(gè)較輕元素外，還有U元素以后的元素以外都可進(jìn)行定性和定量分析。電子探針的大批量是利用經(jīng)過(guò)加速和聚焦的極窄的電子束為探針，激發(fā)試樣中某一微小區(qū)域，使其發(fā)出特征X射線，測(cè)定該X射線的波長(zhǎng)和強(qiáng)度，即可對(duì)該微區(qū)的元素作定性或定量分析。電子探針顯微分析原理及其發(fā)展的初期是建立在X射線光譜分析和電子顯微鏡這兩種技術(shù)基礎(chǔ)上的，該儀器實(shí)質(zhì)上就是這兩種儀器的科學(xué)組合。金山區(qū)優(yōu)勢(shì)探針推薦貨源

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