工業(yè)鉑熱電阻的校準前準備
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標準器選擇:通常選用高精度的標準鉑電阻溫度計作為標準器,其不確定度應滿足校準要求,一般優(yōu)于被校準工業(yè)鉑熱電阻不確定度的 1/3。例如,被校準鉑熱電阻的不確定度為 ±0.1℃,則標準鉑電阻溫度計的不確定度應優(yōu)于 ±0.03℃。
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配套設備:準備恒溫槽,要求其溫度均勻性和穩(wěn)定性良好,溫度波動度在 ±0.05℃以內,溫度均勻性在 ±0.1℃以內。還需配備直流電位差計或數(shù)字多用表等測量儀器,其分辨率和準確度要滿足測量要求,如分辨率應達到 0.1μV。
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環(huán)境條件:校準環(huán)境溫度應控制在(20±5)℃,相對濕度在 45% - 75% 之間,環(huán)境應無強電磁場干擾、無振動,避免陽光直射和空氣對流。
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被校鉑熱電阻檢查:檢查工業(yè)鉑熱電阻的外觀,保護管應無破損、變形,接線盒應完好,引線連接牢固。同時,測量其絕緣電阻,絕緣電阻應不小于 100MΩ(100V 直流電壓下),以確保其電氣性能良好。
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干體式溫度校準器校準步驟
1.設備準備與環(huán)境調節(jié)
1.確認環(huán)境條件:溫度(15~35)℃、濕度≤85%RH,避免振動及強氣流干擾。
2.清潔校準器均溫塊及測溫孔,確保無雜質殘留,檢查恒溫塊與測溫孔接觸面導熱性能。
3.選擇標準鉑電阻溫度計作為參考設備,其外徑需與測溫孔匹配,插入深度≥15倍外徑。
2.校準點設置與設備連接
1.選擇溫度校準點:覆蓋量程上限、下限及中間點,根據用戶需求可增加關鍵工況點。
2.將標準溫度計插入中心測溫孔底部,被校傳感器置于相鄰孔,孔間距離≥20mm,確保軸向浸入深度≥40mm。
3.溫度偏差校準
1.設定目標溫度,待溫度波動≤±0.05℃/10min后進入穩(wěn)定狀態(tài),持續(xù)記錄10分鐘數(shù)據。
2.計算溫度偏差:ΔT=校準器顯示值-標準溫度計均值,需在升溫/降溫過程中各測1次,取兩次平均值作為**終偏差。
4.溫度特性驗證
1.波動度測試:在中間溫度點連續(xù)采集61組數(shù)據,計算**大值與**小值的差值。
2.孔間溫差驗證:在比較高/最低溫度點同步測量中心孔與邊緣孔溫度差,允差≤±0.3℃。
3.軸向溫場均勻性:沿測溫孔軸向每10mm布設測點,驗證40mm均勻區(qū)溫差≤±0.5℃。
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恒溫槽校準步驟
1.設備配置與預平衡
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將標準鉑電阻溫度計(如PT100,擴展不確定度U≤0.05℃)安裝于槽體幾何中心及四角位置,浸入深度≥100mm
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連接多通道數(shù)據采集器,通電預熱1小時,初始溫度設定為25℃
2.溫度均勻性校準
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設置目標溫度(如-20℃、50℃、150℃),待溫度穩(wěn)定(波動≤±0.01℃/10min)后保持30分鐘
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同步讀取5個測溫點的數(shù)據,計算工作區(qū)域比較大溫差(允差≤±0.05℃/工業(yè)級)
3.溫度波動性測試
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在中間溫度點(如100℃)連續(xù)采集數(shù)據30分鐘,采樣間隔10秒
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計算溫度波動度:t波動=(tmax-tmin)/2(應≤±0.02℃/高精度槽)
4.溫度穩(wěn)定性驗證
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在量程上限(如200℃)連續(xù)運行8小時,每小時記錄中心點溫度值
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漂移量ΔT=|t終-t初|應≤±0.1℃(AA級恒溫槽指標)
5.升溫/降溫速率測試
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設置從50℃→150℃全功率升溫,記錄達到設定值±0.1℃范圍所需時間
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計算平均速率(典型值≥3℃/min),超差時檢查加熱系統(tǒng)功率
6.參數(shù)修正與報告
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通過PID參數(shù)調整補償溫度偏差,重測關鍵點驗證修正效果
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生成校準證書,包含均勻性、波動度、穩(wěn)定性及測量不確定度(如U=0.03℃,k=2)
熱像儀計量校準的具體的校準方法和步驟
校準前準備
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設備準備:標準器采用鉑電阻溫度計或輻射溫度計,準備滿足校準規(guī)范的輻射源,如高精度的黑體輻射源。
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環(huán)境條件:校準時的溫度應為 23℃±5℃,相對濕度應不大于 85%(無結露),外界無較大干擾源。
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人員要求:校準人員應熟悉校準規(guī)程和待測設備的性能參數(shù),會規(guī)范使用設備,比較好是通過培訓或有同種校準經驗的人員。
校準流程
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外觀檢查:檢查待校準熱像儀外觀是否潔凈,有無形變、破損,數(shù)字顯示是否清晰,各部件是否齊全、連接是否緊固,設備的名稱、型號、性能參數(shù)、使用說明等資料是否齊全。
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基本功能檢測:確認待校準設備部件齊全,按鍵、電源等正常,正常工作。
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性能檢測
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準備校準實驗室:在校準實驗室中,使用高精度的熱像儀參考源,將參考源均勻排列,以便熱像儀進行測量。
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執(zhí)行校準:熱像儀依次指向每個參考源,并記錄每個溫度下的信號值。校準軟件捕獲這些信號值和參考源的溫度值,并用于繪制曲線。
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數(shù)據分析:校準完成后,將熱像儀的數(shù)據載入校準軟件中進行分析,確定熱像儀的準確性和精度。
校準結果處理
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判定:根據校準數(shù)據判定被測儀器,如所有校準項目均合格則出具檢測證書,如有不合格項目,要做好標注,出具檢測結果通知。
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溫濕度巡回檢測儀校準前準備
1. 標準器及配套設備
1.主標準器:選用一級標準鉑電阻溫度計及標準濕度發(fā)生器,其不確定度需優(yōu)于被校儀器的1/3。
2.恒溫恒濕箱:溫度波動度≤±0.3℃,濕度波動度≤±1.5%RH,均勻性分別≤±0.5℃和±2.0%RH,支持多探頭同步校準(至少8通道)。
3.數(shù)據采集系統(tǒng):配置多通道高精度巡檢儀(分辨率0.01℃/0.1%RH,誤差≤±0.1℃/±1.0%RH)及校準軟件,支持自動比對標準值與巡回檢測儀各通道數(shù)據。
4.輔助工具:探頭固定支架、屏蔽線纜、冰點器。
2. 環(huán)境條件
1.實驗室溫濕度穩(wěn)定在(23±3)℃、(50±10)%RH,避免氣流擾動(如空調直吹或人員走動頻繁),門窗密閉防塵。
2.校準區(qū)域遠離強電磁干擾源,工作臺單獨接地(接地電阻≤4Ω),電源加裝穩(wěn)壓器(波動≤±1%)。
3.恒溫恒濕箱提前4小時開機預穩(wěn)定,確保各校準點溫濕度達到設定值并保持30分鐘以上。
3. 被校儀器檢查
1.外觀與硬件:主機外殼無變形,通道接口無氧化,溫濕度探頭無破損、污染或結露,電壓波動≤±5%。
2.通道一致性:所有通道在恒溫恒濕箱內(25℃/50%RH)示值偏差≤±0.5℃/±3%RH,響應時間差≤10秒。
3.功能驗證:測試自動巡檢周期、高低限報警、數(shù)據存儲/導出功能正常。
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數(shù)字式溫濕度計濕度測量原理
(1) 電容式濕度傳感器(主流技術)
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結構:高分子薄膜(如聚酰亞胺)作為介電質,兩側鍍金屬電極形成電容器。
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工作機制:
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環(huán)境濕度變化→薄膜吸/脫附水分子→介電常數(shù)變化→電容值改變。
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電容值與相對濕度(%RH)成近似線性關系(需溫度補償)。
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典型傳感器:Honeywell HIH4030、Sensirion SHT系列。
(2) 信號處理流程
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電容-頻率/電壓轉換:通過振蕩電路將電容變化轉換為頻率或電壓信號。
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ADC轉換:數(shù)字量化濕度信號。
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溫度補償:濕度傳感器受溫度影響,需用溫度測量值修正濕度讀數(shù)(算法內置)。
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