在激光應用領域，高功率光束檢測一直是個難題。傳統(tǒng)面陣傳感器十分靈敏，在每平方厘米約 10μW 的功率水平下就會飽和，常規(guī)激光器功率遠超此強度，不衰減光束不僅無法測量光斑信息，還可能損壞設備。維度光電為此推出 BeamHere 光斑分析儀系列及適配的高功率光束取樣系統(tǒng)。其掃描狹縫式光斑分析儀采用創(chuàng)新的狹縫物理衰減機制，可直接測量近 10W 的高功率激光，無需額外衰減片。在此基礎上，還推出單次取樣與雙次取樣兩款衰減配件，可組裝疊加形成多次取樣系統(tǒng)。與合適衰減片搭配，可測功率超 1000W。單次取樣配件型號 DL - LBA - 1，45° 傾斜設計，取樣率 4% - 5%，有 C 口安裝方式和鎖緊環(huán)結構，能測量任意角度入射激光；雙次取樣配件型號 DL - LBA - 2，內部緊湊安裝兩片取樣透鏡，取樣率 0.16% - 0.25%，可應對 400W 功率光束，多面體結構有多個支撐安裝孔位。組合安裝配件可進一步衰減更高功率激光，大衰減程度達 10??。而且其緊湊結構的取樣光程能滿足聚焦光斑測量需求，單次取樣 68mm，雙次取樣 53mm，為各類激光應用場景的檢測提供了方案。如何利用光斑分析儀和 M2 因子測量模塊評估激光質量？國產光斑分析儀

針對光通信領域，Dimension-Labs 提供多芯光斑同步檢測方案：掃描狹縫式設備支持單芯 2.5μm 光斑檢測，結合 Fast Check MT 檢測儀實現(xiàn) 12 芯并行測試；相機式系統(tǒng)實現(xiàn)全端面成像分析，可檢測連接器端面傾斜度誤差小于 0.5°。在醫(yī)療激光領域，其 0.1μm 分辨率可捕捉光斑畸變，配合閉環(huán)反饋系統(tǒng)實時調整激光參數(shù)，結合 M2 因子模塊優(yōu)化光束準直度，使激光聚焦精度達 ±2μm。工業(yè)加工場景中，千萬級功率測量能力與 ISO 標準參數(shù)輸出，幫助企業(yè)將激光切割熱影響區(qū)縮小 30%，提升加工精度達 ±5μm。小光斑光斑分析儀原理工業(yè)光斑檢測儀如何選？維度光電；

使用 BeamHere 光斑分析儀測量激光光斑和質量，包括以下步驟： 準備：準備 BeamHere 光斑分析儀、激光器和數(shù)據(jù)處理軟件。確保光斑傳感器放置并連接到計算機。 數(shù)據(jù)采集：啟動激光器，穩(wěn)定照射傳感器，實時傳輸圖像信息到計算機。 數(shù)據(jù)分析：BeamHere 軟件自動處理數(shù)據(jù)，計算光斑參數(shù)和光束質量參數(shù)，支持 2D/3D 視圖。 結果展示：軟件以圖表和數(shù)值展示結果，一鍵生成包含所有數(shù)據(jù)的測試報告，便于導出和打印。 這些步驟幫助用戶測量光斑和光束質量，支持激光技術。

Dimension-Labs 推出 Beamhere 光束質量分析系統(tǒng)，針對激光加工、醫(yī)療設備等領域的光束質量評估需求。該系列產品通過多維度檢測模塊，可對光束能量分布進行實時可視化分析，同步獲取發(fā)散角、M2 因子等參數(shù)。支持光束整形效果驗證、聚焦光斑優(yōu)化及準直系統(tǒng)校準三大典型應用場景，所有測試結果均符合 ISO11146 標準?？蛇x配的 M2 測試模塊可實現(xiàn)光束傳播特性的全程分析，終由軟件自動生成量化評估報告。 產品優(yōu)勢： 滿足測試需求的全系列產品 適配所有Beamhere光斑分析儀的M M2因子測試模塊 精心設計的分析軟件 軟件真正做到交互友好，簡單易用，一鍵輸出測試報告。半導體行業(yè)激光光束質量檢測方案。

Dimension-Labs 通過三大創(chuàng)新重構光斑分析標準：狹縫 - 刀口雙模式切換技術，突破傳統(tǒng)設備量程限制，切換時間小于 50ms；高動態(tài)范圍傳感器，實現(xiàn) 200-2600nm 全光譜響應，量子效率達 85%； AI 驅動的光斑模式識別算法，率達 99.7%，可區(qū)分高斯、平頂、環(huán)形等 12 種光斑類型。全系產品支持 M2 因子在線測試，測量重復性達 ±0.5%，結合工業(yè)級防護設計，可在 - 40℃至 85℃環(huán)境下穩(wěn)定工作，通過 IP65 防塵防水認證，滿足嚴苛場景需求。產品已通過 CE、FCC、RoHS 三重國際認證。用于激光加工測試的光斑質量分析儀。激光加工光斑分析儀光斑測試

M2因子測量模塊，兼顧光斑與光束質量一站式測試。國產光斑分析儀

Dimension-Labs 針對高功率激光檢測難題推出 BeamHere 大功率光束取樣系統(tǒng)，突破傳統(tǒng)面陣傳感器在 10μW/cm2 飽和閾值的限制，通過創(chuàng)新狹縫物理衰減機制實現(xiàn) 10W 級激光直接測量，配合可疊加的單次（DL-LBA-1）與雙次（DL-LBA-2）取樣配件形成多級衰減方案，衰減達 10??，可測功率超 1000W。該系統(tǒng)采用 45° 傾斜設計的單次取樣配件支持 4%-5% 取樣率，雙次配件內置雙片透鏡實現(xiàn) 0.16%-0.25% 取樣率，均配備 C 口通用接口和鎖緊環(huán)結構，支持任意角度入射光束檢測。其優(yōu)化設計的 68mm（單次）和 53mm（雙次）取樣光程確保聚焦光斑完整投射至傳感器，解決傳統(tǒng)外搭光路光程不足問題，緊湊結構減少 70% 空間占用。系統(tǒng)覆蓋 190-2500nm 寬光譜范圍，通過 CE/FCC 認證，可在 - 40℃至 85℃環(huán)境穩(wěn)定工作，已成功應用于工業(yè)激光加工（熱影響區(qū)≤30μm）、科研超快激光（皮秒脈沖分析）及醫(yī)療設備校準（能量均勻性誤差＜2%），幫助客戶提升 3 倍檢測效率并降** 30% 檢測成本。國產光斑分析儀