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維度光電的BeamHere光斑分析儀系列品類齊全。從精細(xì)的微小光斑分析到大面積的宏觀光斑探測,從**能量到高能量密度的光斑測量,無一不在其覆蓋范圍之內(nèi)。無論是科研實驗中對微小光斑現(xiàn)象的,需要超高分辨率的光斑分析;還是工業(yè)生產(chǎn)里對大功率激光加工光束質(zhì)量的把控,涉及高能量密度光斑的監(jiān)測,BeamHere光斑分析儀都能出色勝任。 其應(yīng)用方案更是豐富多樣。在激光加工領(lǐng)域,可助力企業(yè)優(yōu)化切割、焊接工藝,確保光斑能量均勻分布,提高加工精度與效率;于生物醫(yī)學(xué)成像方面,能夠幫助科研人員清晰解析光學(xué)成像系統(tǒng)中的光斑特性,提升成像質(zhì)量與診斷性;在光通信行業(yè),為光信號的傳輸質(zhì)量檢測提供有力保障,確保數(shù)據(jù)傳輸?shù)母咚倥c穩(wěn)定。如何評判激光質(zhì)量的好壞?國產(chǎn)光斑分析儀購買
針對光通信領(lǐng)域,Dimension-Labs 提供多芯光斑同步檢測方案:掃描狹縫式設(shè)備支持單芯 2.5μm 光斑檢測,結(jié)合 Fast Check MT 檢測儀實現(xiàn) 12 芯并行測試;相機式系統(tǒng)實現(xiàn)全端面成像分析,可檢測連接器端面傾斜度誤差小于 0.5°。在醫(yī)療激光領(lǐng)域,其 0.1μm 分辨率可捕捉光斑畸變,配合閉環(huán)反饋系統(tǒng)實時調(diào)整激光參數(shù),結(jié)合 M2 因子模塊優(yōu)化光束準(zhǔn)直度,使激光聚焦精度達 ±2μm。工業(yè)加工場景中,千萬級功率測量能力與 ISO 標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)輸出,幫助企業(yè)將激光切割熱影響區(qū)縮小 30%,提升加工精度達 ±5μm。光束質(zhì)量光斑分析儀有哪些型號M2因子測量模塊,兼顧光斑與光束質(zhì)量一站式測試。
維度光電 BeamHere 系列為激光光束質(zhì)量檢測提供高性價比解決方案: 掃描狹縫式:國內(nèi)刀口 / 狹縫雙模式切換,覆蓋 190-2700nm 光譜,可測 2.5μm-10mm 光束,0.1μm 分辨率實現(xiàn)亞微米級光斑分析。創(chuàng)新狹縫衰減機制支持 10W 級高功率直接測量,無需外置衰減片。 相機式:400-1700nm 寬譜響應(yīng),支持實時 2D/3D 成像與非高斯光束測量。六濾光片轉(zhuǎn)輪設(shè)計擴展功率量程,可拆卸結(jié)構(gòu)兼顧工業(yè)檢測與科研成像需求。 M2 測試模塊:通過 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)算法,測量 M2 因子、發(fā)散角、束腰位置等參數(shù),適配全系產(chǎn)品。 配套 BeamHere 軟件提供直觀操作界面,支持一鍵生成標(biāo)準(zhǔn)化報告,滿足光通信、醫(yī)療、工業(yè)等多場景需求。系統(tǒng)以模塊化設(shè)計實現(xiàn)高精度檢測,助力客戶提升效率與產(chǎn)品質(zhì)量。
Dimension-Labs 通過三大創(chuàng)新重構(gòu)光斑分析標(biāo)準(zhǔn):狹縫 - 刀口雙模式切換技術(shù),突破傳統(tǒng)設(shè)備量程限制,切換時間小于 50ms;高動態(tài)范圍傳感器,實現(xiàn) 200-2600nm 全光譜響應(yīng),量子效率達 85%; AI 驅(qū)動的光斑模式識別算法,率達 99.7%,可區(qū)分高斯、平頂、環(huán)形等 12 種光斑類型。全系產(chǎn)品支持 M2 因子在線測試,測量重復(fù)性達 ±0.5%,結(jié)合工業(yè)級防護設(shè)計,可在 - 40℃至 85℃環(huán)境下穩(wěn)定工作,通過 IP65 防塵防水認(rèn)證,滿足嚴(yán)苛場景需求。產(chǎn)品已通過 CE、FCC、RoHS 三重國際認(rèn)證。脈沖激光光束質(zhì)量怎么測檢測?維度光電,超快激光器研發(fā)利器。
維度光電提供光束質(zhì)量測量解決方案,適用于工業(yè)、醫(yī)療、科研等多個領(lǐng)域。在工業(yè)制造中,用于激光切割和焊接的狹縫式分析儀能實時監(jiān)測激光束能量分布,優(yōu)化加工精度;半導(dǎo)體加工中,超高分辨率檢測技術(shù)支持晶圓劃片工藝優(yōu)化。醫(yī)療健康方面,相機式分析儀用于眼科手術(shù)中激光參數(shù)優(yōu)化,保障手術(shù)安全;M2因子模塊用于醫(yī)療激光設(shè)備校準(zhǔn)。領(lǐng)域,雙技術(shù)組合用于解析飛秒激光特性,支持非線性光學(xué)。光通信領(lǐng)域,相機式分析儀優(yōu)化光器件耦合效率,狹縫式分析儀確保激光器性能一致性。新興領(lǐng)域如光鑷系統(tǒng)和激光育種也受益于該方案。方案特點包括全場景適配、智能分析軟件和模塊化擴展,以滿足不同需求和長期升級。極小光斑測量的光斑分析儀。Dimension光斑分析儀原理
用于千瓦光斑測量的大功率配件。國產(chǎn)光斑分析儀購買
Dimension-Labs 維度光電相機式與狹縫式光斑分析儀的選擇需基于應(yīng)用場景的光斑尺寸、功率等級、脈沖特性及形態(tài)復(fù)雜度。相機式基于面陣傳感器成像,可測大10mm 光斑(受限于 sensor 尺寸),小光斑為 55μm(10 倍 5.5μm 像元),結(jié)合 6 片衰減片(BeamHere 標(biāo)配)實現(xiàn) 1W 功率測量,適合大光斑、脈沖激光(觸發(fā)模式同步捕獲單脈沖)及非高斯光束(如貝塞爾光束)檢測,通過面陣實時反饋保留復(fù)雜形態(tài)細(xì)節(jié)。狹縫式采用正交狹縫掃描,刀口模式可測小 2.5μm 光斑,創(chuàng)新狹縫物理衰減機制允許直接測量近 10W 高功率激光,適合亞微米光斑、高功率及高斯光斑檢測,但需嚴(yán)格匹配掃描頻率與激光重頻以避免脈沖丟失,且復(fù)雜光斑會因狹縫累加導(dǎo)致能量分布失真。維度光電 BeamHere 系列提供雙技術(shù)方案,用戶可根據(jù)光斑尺寸(亞微米選狹縫,大光斑選相機)、功率等級(高功率選狹縫,微瓦級選相機)及光斑類型(復(fù)雜形態(tài)選相機,高斯光斑選狹縫)靈活選擇,實現(xiàn)光斑檢測全場景覆蓋。國產(chǎn)光斑分析儀購買