三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的探頭種類繁多，包括接觸式探頭和非接觸式探頭。接觸式探頭適用于硬質(zhì)材料的測(cè)量，通過物理接觸獲取尺寸數(shù)據(jù)；非接觸式探頭則利用光學(xué)或...
現(xiàn)代閃測(cè)儀在設(shè)計(jì)上充分考慮了環(huán)境適應(yīng)性和穩(wěn)定性問題。它們采用了先進(jìn)的濾波算法和信號(hào)增強(qiáng)技術(shù)，有效減少了光線變化、煙塵干擾等環(huán)境因素對(duì)測(cè)量結(jié)果...
光譜儀主要由光源、入射狹縫、色散元件、聚焦系統(tǒng)和檢測(cè)器等部分組成。光源提供待測(cè)光的輻射；入射狹縫限制光線進(jìn)入光譜儀的角度和范圍；色散元件將復(fù)...
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)主要由主機(jī)、測(cè)頭、電氣系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)四部分組成。主機(jī)是測(cè)量機(jī)的主體部分，包括機(jī)架、工作臺(tái)、導(dǎo)軌等；測(cè)頭是用于接觸被測(cè)物體并進(jìn)行測(cè)...
上海伊豐精密儀器有限公司，成立于2009年6月，經(jīng)營(yíng)地點(diǎn)位于上海市閔行區(qū)，是經(jīng)國(guó)家相關(guān)部門 正式批準(zhǔn)注冊(cè)的一般納稅人企業(yè)。主營(yíng)產(chǎn)品涵蓋：幾何測(cè)量、力學(xué)檢測(cè)、光學(xué)檢測(cè)、無(wú)損檢測(cè)、環(huán)境 測(cè)試、電學(xué)測(cè)試、化學(xué)實(shí)驗(yàn)、其他通用儀器儀表、非標(biāo)自動(dòng)化設(shè)備、質(zhì)量大數(shù)據(jù)軟件、企業(yè)數(shù)字化系 統(tǒng)集成開發(fā)等多個(gè)領(lǐng)域。
