寶山區(qū)熱敏電阻測(cè)溫儀熱工計(jì)量檢測(cè)
來源:
發(fā)布時(shí)間:2025-05-17
熱敏電阻測(cè)溫儀校準(zhǔn)步驟
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連接與預(yù)熱
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將二等標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)和被校準(zhǔn)的熱敏電阻測(cè)溫儀的探頭同時(shí)放入恒溫槽中,確保兩者與恒溫槽內(nèi)的介質(zhì)充分接觸,且位置相對(duì)靠近,以保證測(cè)量的是相同溫度環(huán)境。
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零點(diǎn)校準(zhǔn)
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將恒溫槽溫度設(shè)置為 0℃(或熱敏電阻測(cè)溫儀測(cè)量范圍的下限值),待溫度穩(wěn)定后,觀察熱敏電阻測(cè)溫儀的顯示值是否為 0℃(或下限值)。
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多點(diǎn)校準(zhǔn)
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在熱敏電阻測(cè)溫儀的測(cè)量范圍內(nèi),均勻選取至少 5 個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)
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依次將恒溫槽溫度設(shè)置為各校準(zhǔn)點(diǎn)溫度值,待溫度穩(wěn)定后,記錄標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)溫度值和熱敏電阻測(cè)溫儀的顯示值。
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示值誤差計(jì)算
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根據(jù)記錄的數(shù)據(jù),計(jì)算熱敏電阻測(cè)溫儀在各校準(zhǔn)點(diǎn)的示值誤差,示值誤差 = 熱敏電阻測(cè)溫儀顯示值 - 標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)測(cè)量值。
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將示值誤差與熱敏電阻測(cè)溫儀的允許誤差進(jìn)行比較,判斷是否符合精度要求。一般工業(yè)用熱敏電阻測(cè)溫儀的允許誤差為 ±0.5℃ - ±2℃,具體根據(jù)產(chǎn)品規(guī)格確定。
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重復(fù)性測(cè)試
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在同一校準(zhǔn)點(diǎn)下,多次(一般不少于 3 次)測(cè)量熱敏電阻測(cè)溫儀的顯示值,計(jì)算其重復(fù)性誤差。重復(fù)性誤差 = (比較大顯示值 - **小顯示值)/ 測(cè)量次數(shù)的平均值。
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重復(fù)性誤差應(yīng)不大于允許誤差的 1/3,以確保測(cè)溫儀的測(cè)量重復(fù)性良好。
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工作用輻射溫度計(jì)**結(jié)構(gòu)與工作流程
(1) 光學(xué)系統(tǒng)
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紅外透鏡/反射鏡:聚焦目標(biāo)物體發(fā)出的紅外輻射至探測(cè)器。透鏡材料需透紅外光(如鍺、硒化鋅),避免普通玻璃對(duì)紅外線的吸收。
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視場(chǎng)角與距離系數(shù)(D:S):決定測(cè)量區(qū)域大小,例如D:S=12:1表示在12cm距離下測(cè)量1cm直徑區(qū)域。
(2) 探測(cè)器
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熱電堆(Thermopile):利用溫差電效應(yīng)將紅外輻射轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào),無需制冷,成本低(常用類型)。
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光電導(dǎo)型探測(cè)器(如InGaAs、HgCdTe):對(duì)特定波長(zhǎng)敏感,需制冷以提高靈敏度,用于高精度場(chǎng)合。
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熱釋電探測(cè)器:響應(yīng)速度快,適合動(dòng)態(tài)測(cè)溫。
(3) 信號(hào)處理與溫度計(jì)算
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信號(hào)放大與濾波:探測(cè)器輸出的微弱電信號(hào)經(jīng)放大和濾波(抑制環(huán)境干擾)。
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發(fā)射率(ε)校正:實(shí)際物體非理想黑體(ε<1),需根據(jù)材料設(shè)置發(fā)射率(如拋光金屬ε≈0.1,氧化金屬ε≈0.8,人體皮膚ε≈0.98)。
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溫度反演算法:通過斯特藩-玻爾茲曼公式或分波長(zhǎng)亮度法計(jì)算溫度值。
(4) 顯示與輸出
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溫度顯示:LCD屏幕直接顯示溫度值(℃/℉可切換)。
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數(shù)據(jù)接口:RS-232、USB或無線傳輸至計(jì)算機(jī)或PLC系統(tǒng)。
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環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)前準(zhǔn)備
1. 標(biāo)準(zhǔn)器及配套設(shè)備
1.主標(biāo)準(zhǔn)器:選用一等標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)及標(biāo)準(zhǔn)濕度傳感器,其不確定度需優(yōu)于被校設(shè)備性能指標(biāo)的1/3。
2.多點(diǎn)測(cè)量系統(tǒng):配置多通道高精度數(shù)據(jù)采集儀及至少15支均勻分布的溫濕度探頭,用于檢測(cè)試驗(yàn)箱內(nèi)溫濕度均勻性、波動(dòng)度(按JJF 1101布點(diǎn)要求)。
3.輔助設(shè)備:風(fēng)速儀、輻射屏蔽罩、絕緣支架。
2. 環(huán)境條件
1.實(shí)驗(yàn)室環(huán)境溫濕度穩(wěn)定在(23±3)℃、(50±10)%RH,遠(yuǎn)離振動(dòng)源、熱源及強(qiáng)電磁干擾。
2.設(shè)備放置于水平地面,四周預(yù)留≥1m散熱空間,電源單獨(dú)接地(接地電阻≤4Ω),電壓波動(dòng)≤±5%。
3.校準(zhǔn)前試驗(yàn)設(shè)備需空載運(yùn)行,預(yù)熱至常用溫濕度點(diǎn)并穩(wěn)定2小時(shí)以上。
3. 被校儀器檢查
1.外觀與結(jié)構(gòu):箱體密封條無老化破損,傳感器安裝位置符合說明書要求,加濕水箱無結(jié)垢,冷凝排水管路暢通。
2.性能預(yù)檢:測(cè)試高溫段(85℃)波動(dòng)度≤±0.5℃/30min,低溫段(-40℃)均勻性≤±2.0℃,濕度偏差≤±3.0%RH(參考出廠指標(biāo))。
3.安全功能:驗(yàn)證超溫/超濕報(bào)警、過流保護(hù)、應(yīng)急排氣閥動(dòng)作正常,門鎖聯(lián)鎖功能可靠。
4.軟件設(shè)置:禁用自適應(yīng)控制算法,鎖定程序運(yùn)行參數(shù),清理歷史數(shù)據(jù)確保校準(zhǔn)過程無干擾。
工業(yè)鉑熱電阻的校準(zhǔn)前準(zhǔn)備
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標(biāo)準(zhǔn)器選擇:通常選用高精度的標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)作為標(biāo)準(zhǔn)器,其不確定度應(yīng)滿足校準(zhǔn)要求,一般優(yōu)于被校準(zhǔn)工業(yè)鉑熱電阻不確定度的 1/3。例如,被校準(zhǔn)鉑熱電阻的不確定度為 ±0.1℃,則標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)的不確定度應(yīng)優(yōu)于 ±0.03℃。
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配套設(shè)備:準(zhǔn)備恒溫槽,要求其溫度均勻性和穩(wěn)定性良好,溫度波動(dòng)度在 ±0.05℃以內(nèi),溫度均勻性在 ±0.1℃以內(nèi)。還需配備直流電位差計(jì)或數(shù)字多用表等測(cè)量?jī)x器,其分辨率和準(zhǔn)確度要滿足測(cè)量要求,如分辨率應(yīng)達(dá)到 0.1μV。
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環(huán)境條件:校準(zhǔn)環(huán)境溫度應(yīng)控制在(20±5)℃,相對(duì)濕度在 45% - 75% 之間,環(huán)境應(yīng)無強(qiáng)電磁場(chǎng)干擾、無振動(dòng),避免陽光直射和空氣對(duì)流。
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被校鉑熱電阻檢查:檢查工業(yè)鉑熱電阻的外觀,保護(hù)管應(yīng)無破損、變形,接線盒應(yīng)完好,引線連接牢固。同時(shí),測(cè)量其絕緣電阻,絕緣電阻應(yīng)不小于 100MΩ(100V 直流電壓下),以確保其電氣性能良好。
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溫度數(shù)據(jù)采集儀基本結(jié)構(gòu)與**組件
溫度數(shù)據(jù)采集儀通常由以下模塊構(gòu)成:
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溫度傳感器:熱電偶(K/J/T型)、熱電阻(PT100、PT1000)、熱敏電阻(NTC/PTC)、紅外傳感器等。
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信號(hào)調(diào)理電路:包括放大、濾波、冷端補(bǔ)償(針對(duì)熱電偶)、線性化處理等。
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模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC):將模擬電信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào),決定分辨率和采樣率。
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微處理器(MCU):控制采集時(shí)序、數(shù)據(jù)處理、存儲(chǔ)及通訊。
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存儲(chǔ)模塊:內(nèi)置存儲(chǔ)器(SD卡、Flash)或外接存儲(chǔ)設(shè)備。
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通訊接口:USB、RS-485、Wi-Fi、藍(lán)牙、4G等(用于數(shù)據(jù)傳輸)。
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電源管理:電池或外部供電,支持低功耗模式。
計(jì)量有精度,合作有溫度!寶山區(qū)熱敏電阻測(cè)溫儀熱工計(jì)量檢測(cè)
紅外線測(cè)溫儀中的黑體校準(zhǔn)法如下
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準(zhǔn)備工作
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黑體輻射源:選擇高精度的黑體輻射源,其溫度范圍要能覆蓋紅外線測(cè)溫儀的測(cè)量范圍,并且溫度穩(wěn)定性和均勻性良好。
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預(yù)熱設(shè)備:提前對(duì)黑體輻射源進(jìn)行預(yù)熱,一般需要 30 分鐘以上,以確保其溫度達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)。
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校準(zhǔn)步驟
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設(shè)定溫度點(diǎn):根據(jù)紅外線測(cè)溫儀的測(cè)量范圍和使用需求,在黑體輻射源上設(shè)定多個(gè)不同的已知溫度點(diǎn),如 50℃、100℃、200℃等。
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測(cè)量與對(duì)比:將紅外線測(cè)溫儀對(duì)準(zhǔn)黑體輻射源的輻射口,測(cè)量黑體輻射源在各設(shè)定溫度點(diǎn)下的溫度,記錄紅外線測(cè)溫儀的測(cè)量值,并與黑體輻射源設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)溫度值進(jìn)行比較,計(jì)算偏差。
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調(diào)整修正:依據(jù)偏差值對(duì)紅外線
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