現(xiàn)代的硬件驗(yàn)證語(yǔ)言可以提供一些專門針對(duì)驗(yàn)證的特性，例如帶有約束的隨機(jī)化變量、覆蓋等等。作為硬件設(shè)計(jì)、驗(yàn)證統(tǒng)一語(yǔ)言，SystemVerilog是以Verilog為基礎(chǔ)發(fā)展而來(lái)的，因此它同時(shí)具備了設(shè)計(jì)的特性和測(cè)試平臺(tái)的特性，并引入了面向?qū)ο蟪绦蛟O(shè)計(jì)的思想，因此測(cè)試平臺(tái)的編寫更加接近軟件測(cè)試。諸如通用驗(yàn)證方法學(xué)的標(biāo)準(zhǔn)化驗(yàn)證平臺(tái)開(kāi)發(fā)框架也得到了主流電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化軟件廠商的支持。針對(duì)高級(jí)綜合，關(guān)于高級(jí)驗(yàn)證的電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化工具也處于研究中。集成電路設(shè)計(jì)需要考慮電路功能、性能和功耗等多個(gè)因素。南京哪些企業(yè)集成電路設(shè)計(jì)比較可靠

值得注意的是，電路實(shí)現(xiàn)的功能在之前的寄存器傳輸級(jí)設(shè)計(jì)中就已經(jīng)確定。在物理設(shè)計(jì)階段，工程師不不能夠讓之前設(shè)計(jì)好的邏輯、時(shí)序功能在該階段的設(shè)計(jì)中被損壞，還要進(jìn)一步優(yōu)化芯片按照正確運(yùn)行時(shí)的延遲時(shí)間、功耗、面積等方面的性能。在物理設(shè)計(jì)產(chǎn)生了初步版圖文件之后，工程師需要再次對(duì)集成電路進(jìn)行功能、時(shí)序、設(shè)計(jì)規(guī)則、信號(hào)完整性等方面的驗(yàn)證，以確保物理設(shè)計(jì)產(chǎn)生正確的硬件版圖文件。隨著超大規(guī)模集成電路的復(fù)雜程度不斷提高，電路制造后的測(cè)試所需的時(shí)間和經(jīng)濟(jì)成本也不斷增加。南京哪些企業(yè)集成電路設(shè)計(jì)比較可靠集成電路設(shè)計(jì)需要進(jìn)行可制造性和可測(cè)試性設(shè)計(jì)，以提高產(chǎn)品的制造效率。

在許多設(shè)計(jì)中，自頂向下、自底向上的設(shè)計(jì)方法學(xué)是混合使用的，系統(tǒng)級(jí)設(shè)計(jì)人員對(duì)整體體系結(jié)構(gòu)進(jìn)行規(guī)劃，并進(jìn)行子模塊的劃分，而底層的電路設(shè)計(jì)人員逐層向上設(shè)計(jì)、優(yōu)化單獨(dú)的模塊。，兩個(gè)方向的設(shè)計(jì)人員在中間某一抽象層次會(huì)合，完成整個(gè)設(shè)計(jì)。對(duì)于不同的設(shè)計(jì)要求，工程師可以選擇使用半定制設(shè)計(jì)途徑，例如采用可編程邏輯器件（現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯門陣列等）或基于標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)的集成電路來(lái)實(shí)現(xiàn)硬件電路；也可以使用全定制設(shè)計(jì)，控制晶體管版圖到系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的全部細(xì)節(jié)。

以往，人們將絕大多數(shù)精力放在設(shè)計(jì)本身，而并不考慮之后的測(cè)試，因?yàn)槟菚r(shí)的測(cè)試相對(duì)更為簡(jiǎn)單。近年來(lái)，測(cè)試本身也逐漸成為一個(gè)龐大的課題。比如，從電路外部控制某些內(nèi)部信號(hào)使得它們呈現(xiàn)特定的邏輯值比較容易，而某些內(nèi)部信號(hào)由于依賴大量其它內(nèi)部信號(hào)，從外部很難直接改變它們的數(shù)值。此外，內(nèi)部信號(hào)的改變很多時(shí)候不能在主輸出端觀測(cè)（有時(shí)主輸出端的信號(hào)輸出看似正確，其實(shí)內(nèi)部狀態(tài)是錯(cuò)誤的，觀測(cè)主輸出端的輸出不足以判斷電路是否正常工作）。以上兩類問(wèn)題，即可控制性和可觀測(cè)性，是可測(cè)試性的兩大組成部分。集成電路設(shè)計(jì)需要進(jìn)行用戶體驗(yàn)和人機(jī)交互設(shè)計(jì)，以提高產(chǎn)品的易用性和用戶滿意度。

集成電路設(shè)計(jì)（Integrated circuit design, IC design），亦可稱之為超大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)（VLSI design），是指以集成電路、超大規(guī)模集成電路為目標(biāo)的設(shè)計(jì)流程。集成電路設(shè)計(jì)涉及對(duì)電子器件（例如晶體管、電阻器、電容器等）、器件間互連線模型的建立。所有的器件和互連線都需安置在一塊半導(dǎo)體襯底材料之上，這些組件通過(guò)半導(dǎo)體器件制造工藝（例如光刻等）安置在單一的硅襯底上，從而形成電路。集成電路設(shè)計(jì)常使用的襯底材料是硅。設(shè)計(jì)人員會(huì)使用技術(shù)手段將硅襯底上各個(gè)器件之間相互電隔離，以控制整個(gè)芯片上各個(gè)器件之間的導(dǎo)電性能。集成電路設(shè)計(jì)還需要進(jìn)行物理布局和布線，以滿足電路的性能要求。邢臺(tái)哪家公司集成電路設(shè)計(jì)值得推薦

集成電路設(shè)計(jì)需要進(jìn)行性能測(cè)試和驗(yàn)證，以確保產(chǎn)品的性能指標(biāo)。南京哪些企業(yè)集成電路設(shè)計(jì)比較可靠

時(shí)序分析所需的邏輯門標(biāo)準(zhǔn)延遲格式信息可以由標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)（或從用戶自己設(shè)計(jì)的單元從提取的時(shí)序信息）提供。隨著電路特征尺寸不斷減小，互連線延遲在實(shí)際的總延時(shí)中所占的比例愈加，因此在物理設(shè)計(jì)完成之后，把互連線的延遲納入考慮，才能夠地進(jìn)行時(shí)序分析。邏輯綜合完成之后，通過(guò)引入器件制造公司提供的工藝信息，前面完成的設(shè)計(jì)將進(jìn)入布圖規(guī)劃、布局、布線階段，工程人員需要根據(jù)延遲、功耗、面積等方面的約束信息，合理設(shè)置物理設(shè)計(jì)工具的參數(shù)，不斷調(diào)試，以獲取的配置，從而決定組件在晶圓上的物理位置。如果是全定制設(shè)計(jì)，工程師還需要精心繪制單元的集成電路版圖，調(diào)整晶體管尺寸，從而降低功耗、延時(shí)。南京哪些企業(yè)集成電路設(shè)計(jì)比較可靠

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